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Startseite1 Materialanteil (Traganteil)

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Materialanteil (Traganteil)

Begriffsdefinition Materialanteil

Der summierte Materialanteil Mr einer Oberfläche wird in einer bestimmten Abstand zur höchsten Oberflächenerhebung des Messprofils ermittelt. Diese Größe wird auch häufig als Traganteil einer Oberfläche in einer bestimmten Tiefe bezeichnet von der früheren Norm DIN 4768 wo diese Größe als Mikrotraganteil tpi definiert war. Genau genommen stimmt diese Bezeichnung nicht, da die Tragfähigkeit einer Oberfläche anders definiert ist.

Anwendung Materialanteil

Durch den Materialanteil wird das Verschleißverhalten und die Tragfähigkeit von Oberflächen bewertet. Hauptanwendungsgebiet ist die Charakterisierung von Oberflächen mit plateauartigen Strukturen bei Lagerungen, Führungen und Dichtflächen.

Definition Materialanteil

Rmr(c): Materialanteil des Profils (ISO 4287)
– Die Größe bezieht sich auf den Abstand c zum Bezug, der in der Regel der höchste Punkt des Profils ist.
– Ohne Angabe Schnitthöhe ist diese c=Rz/4 vom höchsten Punkt. Diese Angabe ist aber zur Beschreibung des Materialanteils kritisch.
– Aufgrund der Abhängigkeit der Kurve zur höchsten Rauheitsspitze wird zusätzlich eine Nulllinien-verschiebung cref = c0 bei einem Materialanteil Rmr0 =2-5 % als Bezug definiert.

Materialanteil (Traganteil)

Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D durch, um die Rauheit, Welligkeit, Form und Mikrostrukturen von Oberflächen zu bestimmen. Um die Eigenschaften der Oberfläche zu charakterisieren werden ISO-konforme Kenngrößen 2D/3D berechnet. Die Oberfläche eines Bauteils bestimmt deren Funktion (Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten) und das optische Erscheinungsbild. Die Oberflächenmikrostrukturen werden durch die optischen Messungen vollständig dreidimensional und berührungslos erfasst.

Durch unsere umfassende Laborausstattung können die Oberflächen von allen Materialien gemessen werden, wie z.B. Metalle, Kunststoffe, Keramiken, Gläser. Diese Oberflächenmessungen führen wir überwiegend mit optischen Messgeräten durch. Für besonders hochauflösende Oberflächenanalysen verwenden wir ein Rasterkraftmikroskop (AFM). Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kenngrößen zur Beschreibung von Oberflächen.

Wir arbeiten auf der wissenschaftlichen Basis einer Hochschule, mit der Handlungskompetenz eines Industrieunternehmens.

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen mit Bestimmung des Materialanteils.

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Laborausstattung für Messung Materialanteil (Traganteil)

  • Konfokalmikroskop
  • Laser Konfokal Mikroskop
  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Taktile Rauheitsmessmaschine
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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