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Partikelanalyse

Begriffsdefinition Partikelanalyse

Mit der Partikelanalyse werden Partikel als singuläre Oberflächenerhebungen analysiert. Mit dieser Methode werden Partikel hinsichtlich der horizontalen Dimensionen und Anzahl statistisch ausgewertet. Die Partikelanalyse kann im Anschluss von optischen Oberflächenmessungen 3D erfolgen oder im Rasterelektronenmikroskop (REM). Im REM kann des Weiteren mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX Analyse) eine Materialbestimmung der Partikel erfolgen.

Anwendung Partikelanalyse

Die Analyse von Partikeln mit statistischen Auswertungen der geometrischen Merkmale findet Anwendung bei Restschmutzanalysen von Bauteilen oder bei dotierten Beschichtungen (Dispersionsschichten).

Beispiel für Oberflächenmessung zur Partikelanalyse

Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D durch, um die Rauheit, Welligkeit, Form und Mikrostrukturen von Oberflächen zu bestimmen. Um die Eigenschaften der Oberfläche zu charakterisieren werden ISO-konforme Kenngrößen 2D/3D berechnet. Die Oberfläche eines Bauteils bestimmt deren Funktion (Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten) und das optische Erscheinungsbild. Die Oberflächenmikrostrukturen werden durch die optischen Messungen vollständig dreidimensional und berührungslos erfasst.

Durch unsere umfassende Laborausstattung können die Oberflächen von allen Materialien gemessen werden, wie z.B. Metalle, Kunststoffe, Keramiken, Gläser. Diese Oberflächenmessungen führen wir überwiegend mit optischen Messgeräten durch. Für besonders hochauflösende Oberflächenanalysen verwenden wir ein Rasterkraftmikroskop (AFM). Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kenngrößen zur Beschreibung von Oberflächen.

Wir arbeiten auf der wissenschaftlichen Basis einer Hochschule, mit der Handlungskompetenz eines Industrieunternehmens.

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen mit Partikelanalyse.

Jetzt anfragen

Laborausstattung für Oberflächenmessung zur Partikelanalyse

  • Konfokalmikroskop
  • Digitalmikroskop
  • Stereomikroskop
  • Rasterelektronenmikroskop (REM & EDX)
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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