RFA-/XRF-Analyse
(Röntgenfluoreszenzanalyse)
Die RFA-Analyse (Röntgenfluoreszenzanalyse), englisch X-RAY Fluorescence Spectroscopy (XRF), wird für Materialanalysen und zerstörungsfreie Schichtdickenmessungen eingesetzt. Die Röntgenfluoreszenzanalyse funktioniert auch bei elektrisch nicht leitenden oder temperaturempfindlichen Materialien, da keine Erwärmung der Probe stattfindet.
Das Verfahren eignet sich besonders für den Nachweis von Verunreinigungen im Probenmaterial und ist daher ein hervorragendes Werkzeug für die Prozesskontrolle. Die Proben können fest oder pulverförmig sein. Das Verfahren eignet sich daher für die Untersuchung von Proben aus der Metallurgie, für Keramik und auch für die Analyse von losem Gesteinsmehl oder Zement.
Wir bieten die Röntgenfluoreszenzanalyse für Materialanalysen und Schichtdickenmessungen als Dienstleistung an.
Unsere Leistungen
- Materialanalyse von Stahl-Legierungen und Buntmetall-Legierungen
- Reinheitsbestimmung von Edelmetallen (Gold, Silber, Platin, …)
- Analyse Grobkeramik, Feinkeramik, Technischer Keramik
- Untersuchung RoHS Konformität (Grenzkonzentrationen Cr, Cd, Hg, Pb, Br)
- Schichtdickenmessungen dünner Beschichtungen (5 nm bis 10 µm)
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA, XRF)
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA, eng. XRF) handelt es sich um eine spektroskopische Technik, mit welcher sich die Identitäten und die Konzentrationen von chemischen Elementen bestimmen lassen. Die Nachweisgrenzen der Elementkonzentrationen liegen, abhängig von dem zu bestimmenden Element, im Bereich von ca. 10 ppm. Mit der RFA-Methode können die Schichtdicken von Einzelschichten und Mehrschichtsystemen zerstörungsfrei bestimmt werden. Das findet oftmals Anwendung für galvanisch abgeschiedene Beschichtungen.
Verfahren
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse wird mittels einer Röntgenröhre die Probe mit Röntgenphotonen bestrahlt (Röntgenstrahlung). Aufgrund der hohen Energie der Photonen entfernen diese auf den inneren Schalen der Atome ein Elektron. Diese Lücke wird durch ein Elektron geschlossen, welches sich ursprünglich auf einer weiter außen liegenden Bahn befindet. Dadurch gibt dieses ein Röntgenphoton abgibt, die sogenannte Fluoreszenzstrahlung. Die Energie dieses Röntgenphotons ist für ein bestimmtes Element charakteristisch. Ein Detektor erfasst die Fluoreszenz und durch Verarbeitung der Signale entsteht ein Spektrum mit den Peaks der chemischen Elemente, deren proportional der Konzentration ist.
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA, XRF)
Spektrum
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Röntgenfluoreszenzanalysen.
Schichtdickenmessung
Die RFA-Methode nutzt die Röntgenfluoreszenzanregung der Elemente der Schichtmaterialien und/oder des Substrats als Signalquelle. Mit RFA lassen sich auch Mehrschichtsysteme messen, wozu allerdings die Schichtfolge bekannt sein. Eine weitere Bedingung ist, dass die Elemente, aus denen die Schicht oder die Schichten bestehen, und gegebenenfalls auch die Elemente des Substrats mit RFA messbar sind. Weiterhin dürfen die Schichten nicht so dick sein, dass sich das Messsignal mit der Schichtdicke nicht mehr ändert.