Oberflächenspitzen
Oberflächenspitzen sind die lokal höchsten Erhebungen einer technischen Oberfläche. Bei Kontakt zweier Bauteile stellen sie die ersten tatsächlichen Berührungspunkte dar. Ihre Eigenschaften werden heute häufig mithilfe einer dreidimensionalen optischen Oberflächenmessung erfasst. Dabei erfolgt eine detaillierte Auswertung der Anzahl der Oberflächenspitzen, des durchschnittlichen Spitzenradius und der Steilheit der Rauheitserhebungen. Mithilfe dieser Parameter kann das Kontaktverhalten zwischen Oberflächen realitätsnah beschrieben werden.
Die Anzahl der Oberflächenspitzen hat maßgeblichen Einfluss auf das Einlaufverhalten, den Reibwert und den Verschleiß von Bauteilen. Dies ist besonders relevant bei Kunststoffoberflächen sowie bei Oberflächen, die mit Elastomer-Dichtungen in Kontakt stehen. In diesen Anwendungen entscheidet die Ausprägung der Oberflächenspitzen darüber, ob eine definierte Dichtwirkung erzielt wird oder ob es zu erhöhtem Verschleiß, Leckage oder unerwünschter Reibung kommt. Daher ist die zulässige Anzahl und Art der Oberflächenspitzen häufig eine wichtige funktionale Angabe in technischen Zeichnungen.
Laborausstattung
- Konfokalmikroskop
- Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
- Rasterkraftmikroskop (AFM)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächen- und Rauheitsmessung
Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus den Messungen werden die 2D-Profilkenngrößen und die 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung der Oberflächenstrukturen ermittelt. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen auch Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen etc.) durchgeführt werden.
Die umfangreiche und moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Messung nahezu aller Arten von Oberflächen. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch erfassen zu können. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Mikrostruktur von Oberflächen mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Zu den Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Oberflächencharakterisierung nach der neuen Norm ISO21920:2021 bieten wir sowohl offene als auch Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der neuen ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis -3:2021 (profilierte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt und grundlegend verändert.