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Texturanalyse Oberfläche

Begriffsdefinition Texturanalyse

Oberflächentexturen sind Vorzugsrichtung von der Oberflächenmikrostruktur. Die Texturen werden durch optische Oberflächenmessungen und anschließender Berechnung von dreidimensionalen Kenngrößen charakterisiert. Damit erhält man eine Bewertung über die Richtung und Ausprägung der Oberflächentexturen.

Anwendung Texturanalyse

Texturen und deren Richtung spielen insbesondere bei geschmierten Tribosystemen eine Rolle. Während bei Gleitlagern die Riefenrichtung vorzugsweise senkrecht zur Bewegungsrichtung angeordnet wird (Aquaplaning), ist bei Wälzlager eine Anordnung in Bewegungsrichtung vorteilhaft.

Beispiel für Oberfläche von Textur

Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D durch, um die Rauheit, Welligkeit, Form und Mikrostrukturen von Oberflächen zu bestimmen. Um die Eigenschaften der Oberfläche zu charakterisieren werden ISO-konforme Kenngrößen 2D/3D berechnet. Die Oberfläche eines Bauteils bestimmt deren Funktion (Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten) und das optische Erscheinungsbild. Die Oberflächenmikrostrukturen werden durch die optischen Messungen vollständig dreidimensional und berührungslos erfasst.

Durch unsere umfassende Laborausstattung können die Oberflächen von allen Materialien gemessen werden, wie z.B. Metalle, Kunststoffe, Keramiken, Gläser. Diese Oberflächenmessungen führen wir überwiegend mit optischen Messgeräten durch. Für besonders hochauflösende Oberflächenanalysen verwenden wir ein Rasterkraftmikroskop (AFM). Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kenngrößen zur Beschreibung von Oberflächen.

Wir arbeiten auf der wissenschaftlichen Basis einer Hochschule, mit der Handlungskompetenz eines Industrieunternehmens.

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für 3D-Oberflächenmessungen incl. Texturanalyse.

Jetzt anfragen

Laborausstattung für Oberflächenmessungen zur Texturanalyse

  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Konfokalmikroskop
  • Laser Konfokal Mikroskop
  • Rasterkraftmikroskop (AFM)
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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