Modell Plu S neox
Konfokalmikroskop und Weißlichtinterferometer für optische Oberflächenmessung und Rauheitsmessung
Mit dem Oberflächenmultimessgerät werden im Steinbeis-Transferzentrum optische 3D-Oberflächen-Messungen für die Bestimmung von Rauheit und Welligkeit durchgeführt. Dieses optische Messgerät besteht aus einem Konfokalmikroskop und einem Weißlichtinterferometer (WLI). Diese tasten eine Oberfläche berührungslos ab und erfassen diese vollständig dreidimensional mit höchster Präzision. Durch die Kombination zweier optischer Oberflächenmessgeräte kann für die jeweilige Messaufgabe das optimale Messverfahren verwendet werden. Da die Oberfläche dreidimensional erfasst wird, können nicht nur die üblichen 2D-Rauheitskenngrößen, sondern auch die 3D-Oberflächenkenngrößen berechnet werden. Letztere charakterisieren die Oberflächenmikrostruktur deutlich besser als die 2D-Profilkennwerte. Da die Messung berührungslos erfolgt, eröffnet das auch die Möglichkeit der Oberflächenmessung von empfindlichen Materialien.
Als Prüflabor an der Hochschule in Karlsruhe bieten wir optische Oberflächenmessungen als Dienstleistung an und beraten Sie gerne hinsichtlich geeigneter Oberflächenkenngrößen sowie deren normgerechte Zeichnungsangabe.
Analysen
- Profilrauheit 2D
- Profilwelligkeit 2D
- Flächenrauheit 3D
- Flächenwelligkeit 3D
- Ebenheit
- Konturanalyse
- Texturanalyse
- Oberflächenstrukturanalyse
- Rückhaltevolumen (Schmiertaschen)
- Materialanteil (Traganteil)
Materialien
- Metalle
- Kunststoffe
- Keramiken
- Gläser
Beispiel
- Oberflächentopographie 3D
- Profilschnitt 2D
Spezifikation
- Lichtquelle: LED
- blau: 460 nm
- grün: 530 nm
- weiß: 550 nm
- rot: 630 nm
- Weißlichtinterferometer
- Auflösung: 0.1 nm vertikal, 200 nm lateral
- Max. Messfeldgröße: 110 x 70 mm
- Einzelmessfeld: 175 x 132 µm bis 3.51 x 2.64 mm
- Konfokalmikroskop
- Auflösung: 5 nm vertikal, 140 nm lateral
- Max. Messfeldgröße: 110 x 70 mm
- Einzelmessfeld: 117 x 88 µm bis 1.75 x 1.32 mm
Konfokalmikroskopie
Die Konfokalmikroskopie erlaubt die Oberflächenmessung praktisch aller Materialien, unabhängig von der Transparenz oder Farbe (auch reiner Kohlenstoff als Graphit, Diamant, Ruß). Ein Konfokalmikroskop ist ein optisches Messgerät für die berührungslose dreidimensionale Messung von Oberflächenstruktur. Auch die Oberflächen von großen Bauteilen können damit vermessen werden, indem Negativformen mit einem Abformmaterial angefertigt.
Weißlichtinterferometrie
Weißlichtinterferometer verwenden breitbandiges Licht im sichtbaren Bereich. Mathematisch lässt sich das abgestrahlte Bündel an Frequenzen als ein Wellenpaket mit einer mittleren Frequenz zusammenfassen, dessen Ausdehnung und Form von der spektralen Verteilung definiert wird. Das Wellenpaket wird in einem Strahlteiler in zwei gleichartige Portionen zerlegt. Ein Teil trifft im Referenzarm auf einen Spiegel und wird dort zurück reflektiert. Der andere Teil reflektiert auf der Objektoberfläche. Beide Pakete werden auf dem Rückweg wieder im Strahlteiler vereinigt. Sind die optischen Wege der beiden Teilstrahlen nahezu gleich, dann treffen sich die zuvor getrennten Wellenpakete wieder und können messbar interferieren. Durch die Möglichkeit der Zusammensetzung von Einzelmessfelder (Stitching) können auch größere Oberflächenbereiche vermessen werden.
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