RFA-/XRF-Analyse
(Röntgenfluoreszenzanalyse)
Die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA), englisch X-RAY Fluorescence Spectroscopy (XRF), wird zur Bestimmung der Materialzusammensetzung und zur zerstörungsfreien Schichtdickenmessung eingesetzt. Die Röntgenfluoreszenzanalyse funktioniert auch bei elektrisch nicht leitenden oder temperaturempfindlichen Materialien, da keine Erwärmung der Probe stattfindet. Die Röntgenfluoreszenzanalyse ermöglicht eine schnelle und genaue Identifizierung der in einer Probe enthaltenen Elemente. Dazu gehören Metalle, Legierungen und andere Materialien, bei denen die genaue chemische Zusammensetzung wichtig ist.
Als führen als Steinbeis-Transferzentrum Materialanalysen und Schichtdickenmessungen mittels RFA/XRF als Dienstleistung an.
Was bietet unser Steinbeis-Transferzentrum?
1. Modernste Technologie: Wir setzen auf moderne Analysegeräte, um präzise und reproduzierbare Ergebnisse zu gewährleisten.
2. Fachkundige Expertise: Die Analysen werden von qualifizierten Materialwissenschaftlern/innen durchgeführt, die Ihnen bei Fragen gerne zur Verfügung stehen.
3. Kundenzentrierter Ansatz: Jeder Auftrag ist individuell und deshalb sind unsere Analysen auf die jeweiligen kundenspezifischen Anforderungen zugeschnitten.
Dienstleistungen
- Materialanalyse von Stahl-Legierungen und Buntmetall-Legierungen
- Reinheitsbestimmung von Edelmetallen
- Analyse Grobkeramik, Feinkeramik, Technischer Keramik
- Untersuchung RoHS Konformität (Grenzkonzentrationen Cr, Cd, Hg, Pb, Br)
- Schichtdickenmessung von Beschichtungen (5 nm bis 30 µm)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für eine RFA Analyse.
Röntgenfluoreszenzanalyse
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA Analyse, eng. XRF) handelt es sich um eine spektroskopische Technik, mit welcher die Identitäten und die Konzentrationen von chemischen Elementen bestimmt werden. Die Nachweisgrenzen der Elementkonzentrationen liegen, abhängig von dem zu bestimmenden Element, im Bereich von ca. 10 ppm.
Verfahren
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA Analyse, eng. XRF) handelt es sich um eine spektroskopische Technik, mit welcher sich die Identitäten und die Konzentrationen von chemischen Elementen bestimmen lassen. Die Nachweisgrenzen der Elementkonzentrationen liegen, abhängig von dem zu bestimmenden Element, im Bereich von ca. 10 ppm.
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse wird mittels einer Röntgenröhre die Probe mit Röntgenphotonen bestrahlt (Röntgenstrahlung). Aufgrund der hohen Energie der Photonen entfernen diese auf den inneren Schalen der Atome ein Elektron. Diese Lücke wird durch ein Elektron geschlossen, welches sich ursprünglich auf einer weiter außen liegenden Bahn befindet. Dadurch gibt dieses ein Röntgenphoton abgibt, die sogenannte Fluoreszenzstrahlung. Die Energie dieses Röntgenphotons ist für ein bestimmtes Element charakteristisch. Ein Detektor erfasst die Fluoreszenz und durch Verarbeitung der Signale entsteht ein Spektrum mit den Peaks der chemischen Elemente, deren proportional der Konzentration ist.
Schichtdickenmessung
Mit der RFA-Analyse können die Schichtdicken von Einzelschichten und Mehrschichtsystemen zerstörungsfrei bestimmt werden. Die RFA-Methode nutzt die Röntgenfluoreszenzanregung der Elemente der Schichtmaterialien und/oder des Substrats als Signalquelle. Mit der RFA Analyse lassen sich auch Mehrschichtsysteme messen, wozu allerdings die Schichtfolge bekannt sein muss. Eine weitere Bedingung ist, dass die Elemente, aus denen die Schicht oder die Schichten bestehen, und gegebenenfalls auch die Elemente des Substrats mit RFA messbar sind.