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Maß-, Form- und Lagemessung

Die Maß- und Konturmessungen dienen der Bestimmung von Abständen, Formen, Radien und Winkeln an einem Bauteil. Zur Konturmessung gehört auch die qualifizierte Messung von Schneid- und Beißkanten mit Bestimmung von Radius, Keilwinkel, Fehlhöhe und K-Faktor. Darüber werden Werkzeugwechselintervalle optimiert.

Des Weiteren werden  Form- und Lageabweichungen an Bauteilen mit der Koordinatenmesstechnik bestimmt, wie z.B. die Ebenheit, Parallelität, Rundheit, Zylindrizität uvm. Diese werden mit einer Koordinatenmessmaschine oder einer Rundheitsmessmaschine bestimmt. Die sehr genaue Messung von feingeschliffenen, polierten, gefinishten oder geläppten Oberflächen im Submikrometerbereich erfolgt mit optischen Messgeräten.

  • Vermessung von Längenmaßen, Winkeln und Radien
  • Messung von Form- und Lageabweichungen (Position, Zylinderform, Flächenform etc.)
  • Taktile und optische Messungen

Leistungsübersicht:

MASS- UND KONTURMESSUNG

Die Messung von Konturen und Geometrien erfolgt entweder taktil oder optisch. Die taktile Messung erfolgt mit der 3D-Koordinatenmessmaschine. Die optische Messung erfolgt mit einem Konfokalmikroskop oder mit einem Profilprojektor im Durchlichtverfahren, was z.B. bei Stanzteilen Anwendung findet.

  • 3D-Koordinatenmessmaschine
  • Konfokalmikroskop
  • Digitaler Profilprojektor

FORM- UND LAGEMESSUNG

Die Formmessung erfolgt entweder taktil mit einer Koordinatenmessmaschine und einer Rundheitsmessmaschine. Ganz präzise Messungen im Submikrometerbereich werden optisch mit einem Konfokalmikroskop oder einem optischen Ebenheitsmessgerät berührungslos durchgeführt. Damit werden beispielsweise Geradheit, Ebenheit, Parallelität, Rundheit, Zylinderform, Lauf und Flächenform gemessen. Damit werden dann die Form- und Lageabweichungen bewertet.

  • 3D-Koordinatenmessmaschine
  • Rundheitsmessmaschine
  • Konfokalmikroskop
  • Optisches Ebenheitsmessgerät

RASTERKRAFTMIKROSKOPIE

Bei der Rasterkraftmikroskopie (AFM) „rastert“ eine Messnadel die Oberfläche zeilenweise ab. Wenn die Messnadelspitze mit einem Radius im Nanometerbereich sich der Oberfläche annähert, erhöhen sich die atomaren Wechselwirkungskräfte zwischen Nadel und Oberfläche und die Auslenkung ist ein Maß für die Unebenheit der Oberfläche.

  • Rasterkraftmikroskop (AFM)
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: info@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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