Kontur- und Formmessung
Mithilfe der Form- und Konturmessung kann die geometrische Genauigkeit von Bauteilen zuverlässig überprüft und sichergestellt werden, dass sie ihre vorgesehene technische Funktion erfüllen. Dabei geht sie über die reine Maßprüfung hinaus, indem sie untersucht, wie exakt die reale Bauteilgeometrie mit der idealen Form oder der konstruktiv vorgegebenen Kontur übereinstimmt.
Im Rahmen der Formmessung werden Abweichungen von idealen geometrischen Grundformen wie Rundheit, Ebenheit, Zylindrizität oder Geradheit ermittelt. Diese Merkmale sind insbesondere für funktionskritische Flächen, wie beispielsweise Lager-, Dicht- oder Führungsflächen, von entscheidender Bedeutung. Bereits kleinste Formabweichungen können hier zu erhöhtem Verschleiß, Funktionsstörungen, Geräuschbildung oder einer verkürzten Lebensdauer führen. Die Formmessung liefert daher eine objektive Grundlage, um Formtoleranzen normgerecht zu bewerten.
Die Konturmessung dient hingegen der Überprüfung von Profilen, Radien, Fasen und komplexen Konturverläufen. Dabei wird geprüft, ob eine Oberfläche oder Kante dem vorgegebenen Sollprofil aus Zeichnung oder CAD-Daten entspricht. Dies ist insbesondere bei Bauteilen mit Übergängen, Freiformkonturen oder funktionalen Profilen wichtig, da der exakte Verlauf hier für Montage, Belastbarkeit oder Dichtwirkung entscheidend ist.
Dienstleistungen
KONTURMESSUNG
Die Messung von Konturen und Geometrien erfolgt entweder taktil oder optisch. Die taktile Messung erfolgt mit einer 3D-Koordinatenmessmaschine. Die optische Messung erfolgt mit einem Konfokalmikroskop oder mit einem Digitalen Profilprojektor im Durchlichtverfahren, was z.B. bei Stanzteilen Anwendung findet.
FORM- UND LAGEABWEICHUNGEN
Die Messung von Form- und Lageabweichungen erfolgt entweder taktil mit einer Koordinatenmessmaschine oder bei runden Bauteilen mit einer Rundheitsmessmaschine. Ganz präzise Messungen im Submikrometerbereich werden optisch mit einem Konfokalmikroskop oder einem optischen Ebenheitsmessgerät berührungslos durchgeführt. Damit werden beispielsweise Geradheit, Ebenheit, Parallelität, Rundheit, Zylinderform, Lauf und Flächenform gemessen.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
Bei der Rasterkraftmikroskopie (AFM) „rastert“ eine Messnadel die Oberfläche zeilenweise ab. Wenn die Messnadelspitze mit einem Radius im Nanometerbereich sich der Oberfläche annähert, erhöhen sich die atomaren Wechselwirkungskräfte zwischen Nadel und Oberfläche und die Auslenkung ist ein Maß für die Unebenheit der Oberfläche.