Form- und Konturmessung
Mit der Formmessung werden Form- und Lageabweichungen an Bauteilen bestimmt, wie z.B. die Ebenheit, Parallelität, Rundheit, Zylindrizität uvm. Die Form- und Lageabweichungen werden mit der Koordinatenmessmaschine oder für runde Bauteile mit der Rundheitsmessmaschine bestimmt. Für die optische Profilmessung stehen im Steinbeis-Transferzentrum Tribologie ein Profilprojektor, ein Konfokalmikroskop und ein Weißinterferometer zur Verfügung. Damit können alle Genauigkeiten erfasst und alle Arten von Materialien vermessen werden.
Die Konturmessung dient zur Erfassung von Radien, Abständen und Winkeln an einem Bauteil, wie beispielsweise bei der Vermessung von Gewinden oder der Profilmessung von optischen Linsen. Zur Konturmessung gehört auch die qualifizierte Messung von Schneidkanten und Beißkanten mit Bestimmung von Radius, Keilwinkel, Fehlhöhe und K-Faktor. Darüber werden Werkzeugwechselintervalle optimiert.
Analysen
- Ebenheit
- Flächenform
- Parallelität
- Positionstoleranzen
- Geradheit
- Konzentrizität
- Koaxialität
- Rechtwinkligkeit
- Rundheit
- Zylindrizität
Anwendungsgebiete:
- Lager, Gewinde, Gewindestangen, Wellen, Zahnstangen, Ventile
- Lenkung, Bremssystem, Getriebe, Kurbelwelle, Nockenwelle
- Hüft- und Knieendoprothesen, Kontur an medizinischen Schrauben, Kontur- und Rautiefe von Implantaten
Leistungsübersicht Form- und Konturmessung:
FORM- UND LAGE
Die Messung von Form- und Lage erfolgt entweder durch optische oder taktile durch Verfahren. Die optische Messung erfolgt mit Weißlichtinterferometern oder Konfokalmikroskopen. Die taktile Messung erfolgt mit einem Koordinatenmessgerät oder mit einer Rundheitsmessmaschine.
KONTURMESSUNG
Die Messung von Konturen erfolgt entweder optisch oder taktil. Die optische Messung erfolgt mit Konfokalmikroskopen oder mit einem Profilprojektor im Durchlichtverfahren, was z.B. bei Stanzteilen Anwendung findet. Die taktile Messung erfolgt mit einem Koordinatenmessgerät.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
Bei der Rasterkraftmikroskopie (AFM) „rastert“ eine Messnadel die Oberfläche zeilenweise ab. Wenn die Messnadelspitze mit einem Radius im Nanometerbereich sich der Oberfläche annähert, erhöhen sich die atomaren Wechselwirkungskräfte zwischen Nadel und Oberfläche und die Auslenkung ist ein Maß für die Unebenheit der Oberfläche.