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Lichtmikroskopie

Die Lichtmikroskopie wird für bildgebende Untersuchungen eingesetzt.

BILDAUFNAHMEN

Für mikroskopischen Bildaufnahmen und zur Erstellung tiefenscharfer Farbaufnahmen wird je nach Situation das Stereomikroskop, das Digitalmikroskop oder das Auflichtmikroskop eingesetzt. Das Stereomikroskop wird aufgrund des schrägen Betrachtungswinkels insbesondere für aufgeraute Strukturen wie beispielsweise bei der Analyse von Verschleißstellen benutzt. Mit dem Digitalmikroskop werden große Bereiche dreidimensional durch Möglichkeit der Bildzusammensetzung (Stitching) mit Vergrößerungen bis 2500x untersucht. Das Auflichtmikroskop mit Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung wird für die Analyse von Schliffproben bei metallographischen Untersuchungen eingesetzt.

PARTIKELANALYSE

Für die Partikelanalyse steht bei den Lichtmikroskopen eine automatisierte Zählung und Klassifizierung für die Größe zur Verfügung. Das ermöglicht die Erzielung genauer und reproduzierbarer Ergebnisse durch die Lichtmikroskopie, d.h. Stereomikroskop und Digitalmikroskop.

Da oftmals in Zusammenhang mit Partikel die Zusammensetzung des Materials zu bestimmen ist, erfolgt diese mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) am Rasterelektronenmikroskop (REM).

PHASENANALYSE

Durch die Phasenanalyse können mit einem Auflichtmikroskop oder einem Digitalmikroskop die prozentualen Flächenanteile von Bestandteilen einer Oberfläche bestimmt werden. Eine Phase ist eine Menge von Bildpunkten, die innerhalb eines definierten Intensitätsbereich liegen. Der Intensitätsbereich wird durch einen oberen und unteren Intensitätswert begrenzt.

METALLOGRAPHIE

Für die metallographischen Untersuchungen werden von den zu prüfenden Bauteilen Schliffe erstellt und anschließend geätzt. An diesen werden mittels Lichtmikroskopie oder Rasterelektronenmikroskopie die Gefügestrukturen untersucht oder Schichtdicken bestimmt. Anhand des Gefüges können Wärmebehandlungszustand, Verformungen, Lunker und Seigerungen untersucht werden. Des Weiteren können korrosive Angriffe, Risse und Verunreinigen betrachtet werden.

Unsere Leistungen

  • Gefügeanalyse
  • Korngrößenbestimmung
  • Schichtdickenmessung

SCHADENSANALYSE

Die Schadensanalyse ist das zentrale Element, um die Root Cause (“Wurzel allen Übels”) zu finden und daraus Maßnahmen abzuleiten. Unabdingbar für eine qualifizierte Analyse ist die vollständige Analyse der am Tribosystem beteiligten Komponenten. Hierzu ist die Lichtmikroskopie am Anfang der Gesamtanalyse ein wichtiger Bestandteil, um weitere Analyseverfahren daraus abzuleiten.

  • Schadensanalyse

SCHICHTDICKENMESSUNG

Für die lichtmikroskopische Schichtdickenmessung im Querschliff wird die Probe mit einem Präzisionsschleifer an der zu messenden Stelle präzise getrennt. Anschließend wird die Querschnittsfläche geschliffen und je nach Schichtdicke auch noch poliert. Je nach Schichtdicke und Werkstoff wird die Probe zuvor in eine Einbettmasse eingebettet, um ein Ausbrüche an der Beschichtung durchs Schleifen zu verhindern.

  • Schichtdickenmessung im Querschliff

Mit Lichtmikroskopen werden mikroskopische Bildaufnahmen von Bauteiloberflächen angefertigt und kleine Strukturen von Oberflächen untersucht. Durch die Möglichkeit der Bildzusammensetzung (Stitching) können auch größere Bereiche erfasst werden. Mit einem Digitalmikroskop können sogar dreidimensionale Bilder gemach werden. Die mit einem Lichtmikroskop angefertigten Aufnahmen können anschließend mit entsprechender Software ausgewertet werden. Dies ermöglich die Bestimmung der Größen von Strukturen und Flächen. Die Messfunktionen werden auch für die Partikelanalysen im Rahmen von Restschmutzanalysen verwendet.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: info@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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