Modell BX53M
Auflichtmikroskop für mikroskopische Bildaufnahmen und metallographische Analysen
Ein Auflichtmikroskop wird verwendet, um Proben oder Objekte von oben zu beleuchten und ihre Oberflächenstruktur, Textur und andere Merkmale zu untersuchen. Im Gegensatz dazu beleuchten Durchlichtmikroskope Proben von unten durch das Objektiv. Auflichtmikroskope können eine Vielzahl von Beleuchtungstechniken und Kontrastverfahren verwenden, um die Details der Proben sichtbar zu machen. Dazu gehören Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und andere Techniken, die je nach den spezifischen Anforderungen der Untersuchung ausgewählt werden können.
Wir führen im Steinbeis-Transferzentrum Untersuchungen mittels Auflichtmikroskopie als Dienstleistung durch.
Hier sind einige Anwendungen von Auflichtmikroskopen:
- Oberflächenuntersuchung: Auflichtmikroskope sind besonders nützlich für die Betrachtung von Oberflächenstrukturen von festen Proben. Sie ermöglichen eine klare Visualisierung von Unebenheiten, Kanten, Rissen, Partikeln und anderen Merkmalen auf der Oberfläche.
- Materialwissenschaft: In der Materialwissenschaft werden Auflichtmikroskope häufig eingesetzt, um die Mikrostruktur von Materialien zu untersuchen. Dies umfasst die Analyse von Metallen, Polymeren, Keramiken und anderen Materialien auf ihre Zusammensetzung und Struktur.
- Metallographie: In der Metallurgie werden Auflichtmikroskope für die Untersuchung der Gefügestrukturen von Metallen verwendet. Dies ist wichtig, um Eigenschaften wie Härte, Festigkeit und Korrosionsbeständigkeit zu verstehen.
Für metallographische Untersuchungen werden von den zu prüfenden Bauteile Schliffe erstellt und dann geätzt. Anschließend wird mittels Lichtmikroskop die Gefügestruktur des Werkstoffes untersucht. Anhand dieser können Wärmebehandlungszustand, Verformungen, Lunker und Seigerungen untersucht werden. Des Weiteren können korrosive Angriffe, Risse und Verunreinigen betrachtet werden.
Analysen
- Lichtoptische Untersuchung
- Gefügeanalysen
- Metallographie
- Schichtdickenmessung
- Partikelzählung
Gefügeanalyse
Gusseisenanalyse
Normen
- Schichtdickenmessung: ISO 1463, VDI 3824-4
- Reinheitsgrad Metalle: EN 10247, ISO 4967
- Korngrößenbestimmung (Korngrößenzahl G): ISO 643, DIN 50601
Spezifikation
- Vergrößerung: 50 – 1000x
- Max. lat. Auflösung: 0,3 µm
- Fokussiergenauigkeit: 1 µm
- Mikroskopkamera: 5 Mio. Pixel
- Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung
- Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver
Schichtdickenmessung am Querschliff
Für die lichtmikroskopische Schichtdickenmessung im Querschliff wird die Probe mit einem Präzisionsschleifer an der zu messenden Stelle mit minimaler Wärmeentstehung ganz präzise getrennt. Anschließend wird die Querschnittsfläche geschliffen und ggfs. auch noch poliert. Je nach Schichtdicke und Werkstoff wird die Probe zuvor in eine Einbettmasse eingebettet, um ein Ausbrechen der Beschichtung durchs Schleifen und Polieren zu verhindern.
An der geschliffenen Querschnittsfläche kann die Schichtdicke von Einzelschichten und ggfs. auch von Mehrschichtsystemen bestimmt werden. Die Messung ist weitgehend unabhängig von der Zusammensetzung der Schicht und des Grundwerkstoffes.
Schichtdickenmessung am Querschliff
Auflichtmikroskop – Funktionsweise
Das Prinzip der Lichtmikroskopie besteht darin, dass ein räumlicher Bildausdruck erzeugt wird. Ein Mikroskop ist ein optisches Vergrößerungsgerät für das Betrachten von Objekten. Der Betrachter sieht durch das Okular ein vergrößertes, virtuelles Abbild des reellen Bildes. Das Lichtmikroskop besitzt zwei Tuben mit jeweils einem Okular, d.h. für jedes Auge wird ein getrennter Strahlengang bereitgestellt. Die optische Vergrößerung wird durch ein Hintereinanderschalten von Linsen erzeugt.
Bei einem Auflichtmikroskop wird die Probe i.d.R. durch den Strahlengang beleuchtet. Damit können metallurgische Aufnahmen von Schliffen und mikroskopische Messaufnahmen für Phasenanalysen und Partikelanalysen angefertigt werden werden. Eine weitere sehr nützliche Funktion des Auflichtmikroskops ist die Umstellung von Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung.