Modell BX53M
Auflichtmikroskop für mikroskopische Bildaufnahmen und metallographische Analysen
Mit einem Auflichtmikroskop werden meistens Bildaufnahmen von Quer- bzw. Längsschliffen, sogenannte Schliffbilder, angefertigt. Dadurch können metallografische Gefügeanalysen und Schichtdickenmessungen durchgeführt. Auflichtmikroskope mit Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung werden im Bereich der Materialanalyse eingesetzt. Man kann damit sehr kleine Strukturen untersuchen und leicht Risse oder Löcher feststellen.
Für metallographische Untersuchungen werden von den zu prüfenden Bauteile Schliffe erstellt und anschließend geätzt. Anschließend wird mittels Lichtmikroskop die Gefügestruktur des Werkstoffes untersucht. Anhand dieser können Wärmebehandlungszustand, Verformungen, Lunker und Seigerungen untersucht werden. Des Weiteren können korrosive Angriffe, Risse und Verunreinigen betrachtet werden.
- Gefügeanalysen
- Reinheitsgradbestimmung
- Korngrößenbestimmung
Als Steinbeis-Transferzentrum bieten wir Untersuchungen mit dem Auflichtmikroskop als Dienstleistung an.
Analysen
- Lichtoptische Untersuchung
- Gefügeanalysen
- Metallografie
- Schichtdickenmessung
- Partikelzählung
Gefügeanalyse
Normen
- Schichtdickenmessung: ISO 1463, VDI 3824-4
- Reinheitsgrad Metalle: EN 10247, ISO 4967
- Korngrößenbestimmung (Korngrößenzahl G): ISO 643, DIN 50601
Spezifikation
- Vergrößerung: 50 – 1000x
- Max. Auflösung: 0,3 µm
- Fokussiergenauigkeit: 1 µm
- Mikroskopkamera: 5 Mio. Pixel
- Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung
- Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver
Schichtdickenmessung am Querschliff
Für die lichtmikroskopische Schichtdickenmessung im Querschliff wird die Probe mit einem Präzisionsschleifer an der zu messenden Stelle mit minimaler Wärmeentstehung ganz präzise getrennt. Anschließend wird die Querschnittsfläche geschliffen und ggfs. auch noch poliert. Je nach Schichtdicke und Werkstoff wird die Probe zuvor in eine Einbettmasse eingebettet, um ein Ausbrechen der Beschichtung durchs Schleifen und Polieren zu verhindern.
An der geschliffenen Querschnittsfläche kann die Schichtdicke von Einzelschichten und ggfs. auch von Mehrschichtsystemen bestimmt werden. Die Messung ist weitgehend unabhängig von der Zusammensetzung der Schicht und des Grundwerkstoffes.
Schichtdickenmessung am Querschliff
Auflichtmikroskop – Funktionsweise
Das Prinzip der Lichtmikroskopie besteht darin, dass ein räumlicher Bildausdruck erzeugt wird. Ein Mikroskop ist ein optisches Vergrößerungsgerät für das Betrachten von Objekten. Der Betrachter sieht durch das Okular ein vergrößertes, virtuelles Abbild des reellen Bildes. Das Lichtmikroskop besitzt zwei Tuben mit jeweils einem Okular, d.h. für jedes Auge wird ein getrennter Strahlengang bereitgestellt. Die optische Vergrößerung wird durch ein Hintereinanderschalten von Linsen erzeugt.
Bei einem Auflichtmikroskop wird die Probe i.d.R. durch den Strahlengang beleuchtet. Damit können metallurgische Aufnahmen von Schliffen und mikroskopische Messaufnahmen für Phasenanalysen und Partikelanalysen angefertigt werden werden. Eine weitere sehr nützliche Funktion des Auflichtmikroskops ist die Umstellung von Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung.