Modell BX53M
Auflichtmikroskop für mikroskopische Bildaufnahmen
Mit einem Auflichtmikroskop werden im Steinbeis-Transferzentrum metallurgische Bildaufnahmen von Schliffen, mikroskopische Aufnahmen von Oberflächen und Schichtdickenmessungen angefertigt. Auflichtmikroskope mit Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung werden vor allem im Bereich der Materialforschung und Analyse genutzt. Man kann damit sehr kleine Strukturen untersuchen und leicht Risse oder Löcher feststellen.
Als Labor an der Hochschule in Karlsruhe bieten wir Untersuchungen mit dem Auflichtmikroskop als Dienstleistung an. Sprechen Sie uns an !
Analysen
- Mikroskopische Analysen
- Phasenanalysen
- Partikelzählung
- Schichtdickenmessungen
Beispiele
Phasenanalyse
Schichtdickenmessung
Normen
- Schichtdickenmessung > 4 µm: ISO 1463
Spezifikation
- Max. Vergrößerung: 1000x
- Max. Auflösung: 0,27 µm
- Fokussiergenauigkeit: 1 µm
- Mikroskopkamera mit 5 Mio. Pixel
- Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung
- Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver
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