Modell BX53M
Auflichtmikroskop für mikroskopische Bildaufnahmen und metallographische Analysen
Mit einem Auflichtmikroskop werden Bildaufnahmen von Schliffen, also Aufnahmen aher von glatten Oberflächen angefertigt. Am präparierten Querschliff lassen sich dadurch Schichtdickenmessungen durchführen. Auflichtmikroskope mit Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung werden im Bereich der Materialforschung und Analyse genutzt. Man kann damit sehr kleine Strukturen untersuchen und leicht Risse oder Löcher feststellen.
Der Reinheitsgrad eines metallischen Werkstoffes ist die Angabe über den Gehalt an nichtmetallischen Einschlüssen in Form von Sulfiden und Oxiden. Der Reinheitsgrad von Stahl wird gemäß der DIN EN 10247 bestimmt. In dieser ist die DIN 50602 aus dem Stahl-Eisen-Prüfblatt 1570 aufgegangen. Zur Ermittlung des Reinheitsgrades werden Längsschliffe an den Proben angefertigt und diese mit einem Auflichtmikroskop analysiert.
Als Steinbeis-Transferzentrum bieten wir Oberflächenanalysen mit dem Auflichtmikroskop als Dienstleistung an.
Analysen
- Lichtoptische Untersuchung
- Phasenanalyse
- Partikelzählung
- Schichtdickenmessung
- Reinheitsgrad Metalle
Beispielaufnahme
Polierter Querschliff mit Poren
Normen
- Schichtdickenmessung: ISO 1463, VDI 3824-4
- Reinheitsgrad Metalle: DIN EN 10247 (alt: DIN 50602 ), ISO 4967
Spezifikation
- Max. Vergrößerung: 1000x
- Max. Auflösung: 0,27 µm
- Fokussiergenauigkeit: 1 µm
- Mikroskopkamera mit 5 Mio. Pixel
- Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung
- Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver
Schichtdickenmessung am Querschliff
Für die lichtmikroskopische Schichtdickenmessung im Querschliff wird die Probe mit einem Präzisionsschleifer an der zu messenden Stelle mit minimalster Wärmeentstehung ganz präzise getrennt und anschließend wird die Querschnittsfläche geschliffen und je nach Schichtdicke auch noch poliert. Je nach Schichtdicke und Werkstoff wird die Probe zuvor in eine Einbettmasse eingebettet, um ein Ausbrüche an der Beschichtung durchs Schleifen zu verhindern.
An der geschliffenen Querschnittsfläche kann die Schichtdicke von Einzelschichten und ggfs. auch von Mehrschichtsystemen bestimmt werden. Die Messung ist weitgehend unabhängig von der Zusammensetzung der Schicht und des Grundwerkstoffes.
Schichtdickenmessung am Querschliff
Auflichtmikroskopie – Funktionsweise
Bei der Auflichtmikroskopie wird die Probe i.d.R. durch den Strahlengang beleuchtet und durch die Anordnung von verschiedenen Linsen vergrößert. Die optische Vergrößerung wird durch ein Hintereinanderschalten von Linsen erzeugt. Der Unterschied zum Digitalmikroskop besteht darin, dass an dem Auflichtmikroskop Objektive mit einer festen Brennweite verwendet werden. Der Nachteil der am Digitalmikroskop verwendeten Zoom-Objektive besteht darin, dass durch die Bauweise der Verstellbaren Brennweite die Abbildungsleistung der Objektive sinkt. Auch sind Zoomobjektive lichtschwächer was sich negativ auf die Belichtungszeit auswirkt. Mit einem Auflichtmikroskop können metallurgische Aufnahmen von Schliffen, mikroskopische Messaufnahmen, Phasenanalysen und Partikelanalysen vorgenommen werden. Eine weitere sehr nützliche Funktion des Auflichtmikroskops ist die Umstellung von Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung.