Modell BX53M
Auflichtmikroskop für mikroskopische Bildaufnahmen
Mit einem Auflichtmikroskop werden Bildaufnahmen von Schliffen, also eher mikroskopische Aufnahmen von glatten Oberflächen angefertigt. Am präparierten Querschliff lassen sich dadurch Schichtdickenmessungen durchführen. Auflichtmikroskope mit Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung werden im Bereich der Materialforschung und Analyse genutzt. Man kann damit sehr kleine Strukturen untersuchen und leicht Risse oder Löcher feststellen.
Als Labor an der Hochschule in Karlsruhe bieten wir lichtoptische Untersuchungen mit dem Auflichtmikroskop als Dienstleistung an. Sprechen Sie uns an !
Analysen
- Lichtoptische Untersuchungen
- Phasenanalysen
- Partikelzählung
- Schichtdickenmessungen
Beispiele
Phasenanalyse
Schichtdickenmessung
Normen
- Schichtdickenmessung: ISO 1463
Spezifikation
- Max. Vergrößerung: 1000x
- Max. Auflösung: 0,27 µm
- Fokussiergenauigkeit: 1 µm
- Mikroskopkamera mit 5 Mio. Pixel
- Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung
- Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver
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