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Auflichtmikroskop
BX53M Olympus

www.olympus.de

Modell BX53M

Auflichtmikroskop für mikroskopische Bildaufnahmen

Mit einem Auflichtmikroskop werden Bildaufnahmen von Schliffen, also eher mikroskopische Aufnahmen von glatten Oberflächen angefertigt. Am präparierten Querschliff lassen sich dadurch Schichtdickenmessungen durchführen. Auflichtmikroskope mit Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung werden im Bereich der Materialforschung und Analyse genutzt. Man kann damit sehr kleine Strukturen untersuchen und leicht Risse oder Löcher feststellen.

Der Reinheitsgrad eines metallischen Werkstoffes ist die Angabe über den Gehalt an nichtmetallischen Einschlüssen in Form von Sulfiden und Oxiden. Der Reinheitsgrad von Stahl wird gemäß den Normen ISO 4967, DIN 50602 und EN 10247 bestimmt.

Als Labor an der Hochschule in Karlsruhe bieten wir lichtoptische Untersuchungen mit dem Auflichtmikroskop als Dienstleistung an.

Analysen

  • Lichtoptische Untersuchungen
  • Phasenanalysen
  • Partikelzählung
  • Schichtdickenmessungen
  • Reinheitsgrad bestimmen

Beispiele

Phasenanalyse


Schichtdickenmessung


Normen

  • Schichtdickenmessung: ISO 1463
  • Reinheitsgrad Stahl bestimmen: ISO 4967, DIN 50602, EN 10247

Spezifikation

  • Max. Vergrößerung: 1000x
  • Max. Auflösung: 0,27 µm
  • Fokussiergenauigkeit: 1 µm
  • Mikroskopkamera mit 5 Mio. Pixel
  • Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung
  • Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver

Auflichtmikroskopie – Funktionsweise

Bei der Auflichtmikroskopie wird die Probe i.d.R. durch den Strahlengang beleuchtet und durch die Anordnung von verschiedenen Linsen vergrößert. Die optische Vergrößerung wird durch ein Hintereinanderschalten von Linsen erzeugt. Der Unterschied zum Digitalmikroskop besteht darin, dass an dem Auflichtmikroskop Objektive mit einer festen Brennweite verwendet werden. Der Nachteil der am Digitalmikroskop verwendeten Zoom-Objektive besteht darin, dass durch die Bauweise der Verstellbaren Brennweite die Abbildungsleistung der Objektive sinkt. Auch sind Zoomobjektive lichtschwächer was sich negativ auf die Belichtungszeit auswirkt. Mit einem Auflichtmikroskop können metallurgische Aufnahmen von Schliffen, mikroskopische Messaufnahmen, Phasenanalysen und Partikelanalysen vorgenommen werden. Eine weitere sehr nützliche Funktion des Auflichtmikroskops ist die Umstellung von Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung.

Verwandte Themenbereiche

  • Lichtmikroskopie
  • Schichtdickenmessung
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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