Modell LEXT OLS 4100
Konfokales Laserscanningmikroskop für optische Oberflächenmessung 2D/3D und Schichtdickenmessung
Mit dem konfokalen Laser-Scanning-Mikroskop (KLSM) werden optische Oberflächenmessungen 3D im Steinbeis-Transferzentrum durchgeführt, um die Rauheit und Welligkeit von Oberflächen zu bestimmen. Durch die optische Oberflächenmessung der Rauheit mit einem Laser ist es möglich die Mikrostruktur der Oberfläche sehr genau und dreidimensional zu erfassen. Anschließend werden die Kenngrößen der entsprechenden Normen für die Oberflächenrauheit 2D/3D und für die Ebenheit bestimmt. Wir bieten optische Oberflächenmessungen als Dienstleistung an und beraten Sie gerne hinsichtlich geeigneter Kenngrößen für Oberflächen. Da die optischen Messung von Oberflächen berührungslos erfolgt, werden damit Oberflächen von empfindlichen Materialien vermessen. Die Oberflächen von großen Bauteilen oder von optisch nicht zugänglicher Stellen (z.B. Bohrungen) werden durch ein spezielles Material negativ abgeformt und anschließend optisch vermessen.
Ein Konfokalmikroskop wird zur Oberflächenmessung rauer bis moderat rauer Oberflächen eingesetzt. Mit diesem Laser Konfokalmikroskop sind auch Schichtdickenmessungen möglich, entweder am Querschliff, als Stufenmessung oder im Durchlichtverfahren für transparente Beschichtungen (z.B. Schutzlacke, Folien).
Als spezialisiertes Labor in Karlsruhe bieten wir die Analysen als Dienstleistung an.
Analysen
- Rauheit 2D
- Welligkeit 2D
- Rauheit 3D
- Welligkeit 3D
- Materialanteil (Traganteil)
- Ebenheit
- Konturanalyse
- Strukturanalyse
- Furchen/Riefenanalyse
- Schichtdickenmessung
Kennwerte 2D/3D
- ISO 4287: Pt, Ra, Rz, Rq, Rmr, Rmr, Wt, …
- ISO 13565-2: Rpk, Rk, Rvk, …
- ISO 25178-2: Sa, Sz, Sq, Sdq, Smr, Sdr, Str, …
- prEN ISO 21920-2
- ISO 12181-1: RONt
- ISO 12781-1: FLTt
Materialien
- Metalle
- Kunststoffe
- Gummi
- Keramiken
- Gläser
Beispiel
- Mikrostruktur einer Oberfläche
Spezifikation
- Lichtquelle: violetter Laser (405 nm)
- Auflösung: 8 nm vertikal, 120 nm lateral
- Vergrößerung: bis zu 8000-fach
- Max. Bauteilhöhe: 100 mm
- Max. Scanhöhe: 10 mm
- Max. Messfeldgröße: 100 x 100 mm
- Einzelnes Messfeld: 16 x 16 µm bis 1.28 x 1.28 mm
- Schichtdicken (Querschliff: ab 4 µm, Durchlicht: 5-150 µm, Stufenmessung: ab 8 nm)
Konfokalmikroskopie
Bei der Konfokalmikroskopie wird die Probe ohne umfangreiche Vorbehandlung unter atmosphärischen Bedingungen vermessen. Die Konfokalmikroskopie erlaubt die Messung von Oberflächen verschiedenster Materialien und unterschiedlicher Rauheiten. Aus der optischen Messung der Oberflächenrauheit werden Oberflächenstrukturen, Konturen und die Oberflächenkenngrößen bestimmt. Der Aufbau eines Konfokalmikroskops ist dem eines klassischen Mikroskops sehr ähnlich. Durch ein Linsensystem wird ein Objekt vergrößert und auf einem Detektor (Photomultiplier) abgebildet. Bei einem Konfokalmikroskop wird kurz vor dem Detektor, durch eine bündelnde Linse, ein Zwischenfokus erzeugt, in welchem sich eine sehr kleine Blende befindet. Durch die Möglichkeit der Zusammensetzung von Einzelmessfelder (Stitching) können auch größere Oberflächenbereiche vermessen werden.
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