Modell CALOTEST COMPACT
Kalottenschleifgerät für die Schichtdickenmessung von Beschichtungen
Die Messung der Schichtdicke von Hartstoffbeschichtungen wird im Steinbeis-Transferzentrum mit einem Kalottenschleifgerät durchgeführt. Beim Kalottenschliff wird mit einer Stahlkugel eine Kalotte auf der zu prüfenden Beschichtung eingeschliffen und die Größe der entstehende Kalotte mikroskopisch vermessen.
Das CALOTEST Gerät wird für die Bestimmung der Schichtstärke von Hartstoffschichten mit einer Schichtdicke von 0.5 bis 50 μm eingesetzt. Mit dem Kalottenschleifverfahren kann die Schichtdicke von Einzelschichten und von Schichtsystemen gemessen werden.
Als Steinbeis-Transferzentrum bieten wir Schichtdickenmessungen mit dem Kalottenschleifgerät als Dienstleistung an.
Anwendungen
- PVD-Schichten
- CVD-Schichten
- Metallschichten
- Galvanische Schichten
- Chemische Schichten
- Lackschichten (ausgehärtet)
- Dekorschichten
- Oxidschichten
Norm
- DIN EN ISO 26423
- VDI 3824-4 (4.2.1)
- DIN EN 1071-2 (zurückgezogen)
- VDI 3198 (zurückgezogen)
Beispiel
- Kalottenschliff
Kalottenschliff
Spezifikation
- Schichtdicke: 0.5 – 50 µm
- Genauigkeit: ± 1 – 5 %
Kalottenschliff-Methode (Calotest)
Der Kalottenschliff ist eine abgeänderte Variante der Querschlifftechnik bei der durch eine schräge Schliffpräparation die Analysefläche vergrößert und die Schichtdicke verbreitert wird. Dadurch kann Querschnittsfläche des Kalottenschliffs mit einem Mikroskop genauer bestimmt werden. Hierzu wird mit einer Stahlkugel und einer entsprechenden Schleifsuspension auf Basis von Öl oder Wasser eine sphärische Abriebkalotte auf der zu prüfenden Beschichtung eingeschliffen. Anschließend wird die so entstandene Kalotte i.d.R. mittels Lichtmikroskop vermessen. Voraussetzung für das Verfahren ist, dass ein ausreichend hoher lichtoptischer Kontrast zwischen den Werkstoffen der Beschichtung und des Substrates vorhanden ist. Für die Schichtdickenmessung muss die Kalotte durch die Schicht bis zum Grundmaterial eingeschliffen werden, was durch die Zugabe abrasiven Bestandteile in der Suspension (Diamant, Aluminumoxid, Siliziumdioxid) unterstützt wird. Abhängig von der verwendeten Probengeometrie ergeben sich bei der Betrachtung der zu messenden Schicht mittels Mikroskop konzentrische Kreise für ebene und elliptische für gekrümmte Oberflächen, anhand derer die Bestimmung der Schichtdicke vorgenommen wird. Das Verfahren funktioniert für ebene Proben oder für zylindrische, falls der Krümmungsradius der Probe mindestens dem 100fachen des Radius der Schleifkugel beträgt.
Verfahren zur Schichtdickenmessung