Chromschicht messen
Die Dicke einer Chromschicht ist eine wichtige Kenngröße für die Qualität und Funktion beschichteter Bauteile. Je nach Grundwerkstoff, Schichtaufbau und erforderlicher Messgenauigkeit stehen unterschiedliche Verfahren zur Verfügung. Um eine Chromschicht zu messen, kommen insbesondere
- die magnetinduktive Schichtdickenmessung,
- die mikroskopische Messung am Querschliff und
- die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA/XRF).
zum Einsatz.
Als Auftragslabor bestimmen wir Schichtdicken mit verschiedenen Messverfahren. Je nach Grundwerkstoff, Beschichtung und Fragestellung wählen wir das geeignete Verfahren aus. Bei Bedarf kombinieren wir die Schichtdickenmessung mit weiteren Oberflächen-, Werkstoff- und Schadensanalysen.
Chromschichten auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen wie Stahl können schnell und zerstörungsfrei mittels magnetinduktiver Messung erfasst werden. Dieses Verfahren eignet sich insbesondere für Hartchromschichten auf Stahl sowie für Messungen an mehreren Positionen eines Bauteils.
Bei mehrlagigen Beschichtungssystemen kann mit diesem Verfahren jedoch in der Regel nicht die einzelne Chromschicht bestimmt werden. Zudem können magnetische Zwischenschichten, wie beispielsweise Nickel, die Messung beeinflussen.
Vorteile: schnell, zerstörungsfrei und gut für Einzel- und Serienmessungen geeignet.
Wenn der tatsächliche Schichtaufbau direkt untersucht werden soll, bietet sich eine mikroskopische Schichtdickenmessung am metallographischen Querschliff an. Hierzu wird das Bauteil präpariert und der Schichtaufbau anschließend mit einem Licht- oder Rasterelektronenmikroskop untersucht.
Damit lassen sich die einzelnen Schichten direkt vermessen. Gleichzeitig können Grenzflächen, Poren, Risse, Ablösungen und andere Beschichtungsfehler sichtbar gemacht werden. Das Verfahren ist daher besonders für komplexe Schichtsysteme und Schadensanalysen geeignet.
Vorteile sind die direkte Darstellung und Vermessung einzelner Schichten sowie die Beurteilung des Schichtaufbaus und möglicher Beschichtungsfehler.
Auch die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA/XRF) ermöglicht eine zerstörungsfreie Schichtdickenmessung. Sie eignet sich besonders für metallische Beschichtungen und kann, abhängig vom jeweiligen Schichtsystem, auch einzelne Schichten eines Mehrschichtsystems erfassen.
Zusätzlich liefert die RFA Informationen über die chemische Zusammensetzung der Beschichtung. Dadurch ist sie beispielsweise für die Untersuchung von galvanischen Beschichtungen und Systemen wie Cu/Ni/Cr interessant.
Vorteile: Sie ist quasi zerstörungsfrei, die chemische Analyse und die Schichtdickenmessung sind kombinierbar und sie ist für ausgewählte Mehrschichtsysteme geeignet.
Kontakt aufnehmen
Interessiert an unserer Dienstleistung?
Nehmen Sie jetzt Kontakt mit uns auf – per E-Mail, Telefon oder Mobil.
Wir beantworten Ihre Anfrage schnell und persönlich.
Steinbeis-Transferzentrum an der Dualen Hochschule Karlsruhe
Mitglied in Deutschlands Spitzencluster microTEC