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Startseite1 Neue Norm für Rauheit – ISO 21920

Neue Norm für Rauheit – ISO 21920

Die neue internationale Norm ISO 21920 zur profilhaften Messung, Charakterisierung und Angabe der Oberflächenbeschaffenheit (Rauheit, Welligkeit) von Bauteilen hat die Normen ISO 4287, ISO 4288, ISO 13565-2 und ISO 1302 abgelöst, die alle zurückgezogen wurden. Dadurch gibt es etliche Änderungen für die Durchführung der Rauheitsmessung, die Rauheitskennwerte, die Zeichnungseintragungen für die Oberflächenbeschaffenheit und die Rauheitsmessung.

ISO 21920

  • ISO 21920-1: Ersetzt die ISO 1302 für die Angabe der Oberflächenbeschaffenheit mit einigen Ergänzungen aus der ISO 1101 und anderen Spezifizierungsdokumenten.
  • ISO 21920-2: Ersetzt alle Parameter der bisherigen Normen ISO 4287, ISO 13565, ISO 12085 und ergänzt diese um weitere Parameter zur Charakterisierung von Rauheit und Welligkeit. Des Weiteren wurden etliche Bezeichnungen für die bereits existierenden Parameter geändert.
  • ISO 21920-3: Definiert die Defaulteinstellungen für die Durchführung der Rauheitsmessung, wie z.B. Messstrecke, Filtertyp, Nesting-Index etc.

Zeichnungsangabe

ISO 21920-1 (Auszug Änderungen)

  • Unterscheidung der Kenngrößen in Auswertelängen- und Abschnittslängenkenngrößen.
  • Für Auswertelängenkenngrößen kann die Messstrecke am Oberflächensymbol definiert werden.
  • Für Abschnittslängenkenngrößen kann die Messstrecke durch Angabe der Abschnittslänge und der Anzahl der Abschnitten definiert werden.
  • Der Default für die Toleranzakzeptanzregel ist nicht mehr die 16%-Regel.
  • Neu ist die Median-Toleranzakzeptanzregel, die mit Tmed am Symbol angegeben werden kann.
  • Die geforderte Messrichtung kann am Oberflächensymbol angegeben werden.
  • Durch die Angabe der Nummer der Einstellungsklasse können die Messbedingungen definiert werden.
  • Die Angabe der Bearbeitungszugabe entfällt.

Parameter

ISO 21920-2 (Auszug Änderungen)

  • Die Mittlere Rautiefe Rz wird zur maximalen Höhe des Rauheitsprofils Rz.
  • Die Maximale Rautiefe Rz1max (früher Rzmax bzw. Rmax) wird zur maximalen Höhe des Abschnittes Rzx, wobei sich die Berechnung verändert hat.
  • Der Materialanteil Rmr(c) wird zum relativen Materialanteil Rmr(p, dc).
  • Die meisten der Kenngrößen basieren nun auf der Auswertelänge und nur wenige auf der Abschnittslänge.
  • Viele neue Oberflächenkenngrößen, d.h. in Summe ca. 100 Kenngrößen zur passgenauen Definition der Oberflächenbeschaffenheit.

Messbedingungen

ISO 21920-3 (Auszug Änderungen)

  • Keine Unterscheidung zwischen periodischen und aperiodischen Profilen.
  • Die Messbedingungen sind individuell für verschiedene Kenngrößen definiert.
  • Die Messbedingungen richten sich nicht mehr nach den Istwerten.
  • Der Default-L-Filtertyp für die Profilparameter für Funktionsflächen ist nicht mehr der Doppelte Gauß-Filter.
  • Für R- und W-Parameter ohne festgelegte Defaults oder für Funktionsparameter ist die Einstellungsklasse oder mindestens der Nesting-Index (Grenzwellenlänge) des Profil-L-Filters (Funktions- und R-Kenngrößen) bzw. der Nesting-Index (Grenzwellenlänge) des Profil-S-Filters (W-Kenngrößen) anzugeben.

Besuchen Sie unser Seminar Rauheit und Rauheitsmessung und erfahren Sie mehr.

Seminar Rauheit

Oberflächensymbol

Die profilhaften Angaben der Oberflächenbeschaffenheit in der ISO 21920-1 bestimmen die Anforderungen an die Oberfläche und die Einstellungsparameter für die Messung.

  • a: Toleranztyp
  • b: Symbol für Kenngrößen
  • c: Toleranzgrenzwert der Kenngröße
  • d: Toleranzakzeptanzregel
  • e: Typ des Profil-S-Filters
  • f: Nesting-Index des Profil-S-Filters
  • g: Typ des Profil-L-Filters
  • h: Nesting-Index des Profil-L-Filters
  • i: Abschnittslänge
  • k: Anzahl Abschnitte
  • m: Auswertelänge
  • n: Assoziationsverfahren und Element des Profil-F-Operators
  • p: Nesting-Index des Profil-F-Operators
  • q: Verfahren der Profilerfassung
  • r: Platzhalter für das OR(n)-Symbol für andere Anforderungen
  • s: Fertigungsprozess
  • t: Oberflächenrillen/Richtung der Bearbeitungsspuren
  • u: Profilrichtung im Verhältnis zu den Bearbeitungsspuren
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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