Auflichtmikroskop Olympus BX53M
Ein Auflichtmikroskop wird verwendet, um Proben oder Objekte von oben zu beleuchten und ihre Oberflächenstruktur, Textur und andere Merkmale zu untersuchen. Im Gegensatz dazu beleuchten Durchlichtmikroskope Proben von unten durch das Objektiv. Auflichtmikroskope können eine Vielzahl von Beleuchtungstechniken und Kontrastverfahren verwenden, um die Details der Proben sichtbar zu machen. Dazu gehören Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und andere Techniken, die je nach den spezifischen Anforderungen der Untersuchung ausgewählt werden können.
Typische Einsatzbereiche sind:
- Lichtoptische Untersuchung
- Gefügeanalysen
- Metallographie
- Schichtdickenmessung
- Partikelzählung
- Oberflächenuntersuchung: Auflichtmikroskope sind besonders nützlich für die Betrachtung von Oberflächenstrukturen von festen Proben. Sie ermöglichen eine klare Visualisierung von Unebenheiten, Kanten, Rissen, Partikeln und anderen Merkmalen auf der Oberfläche.
- Materialwissenschaft: In der Materialwissenschaft werden Auflichtmikroskope häufig eingesetzt, um die Mikrostruktur von Materialien zu untersuchen. Dies umfasst die Analyse von Metallen, Polymeren, Keramiken und anderen Materialien auf ihre Zusammensetzung und Struktur.
- Metallographie: In der Metallurgie werden Auflichtmikroskope für die Untersuchung der Gefügestrukturen von Metallen verwendet. Dies ist wichtig, um Eigenschaften wie Härte, Festigkeit und Korrosionsbeständigkeit zu verstehen.
- Schichtdickenmessung: ISO 1463, VDI 3824-4
- Reinheitsgrad Metalle: EN 10247, ISO 4967
- Korngrößenbestimmung (Korngrößenzahl G): ISO 643, DIN 50601
Gusseisenanalyse
Für die lichtmikroskopische Schichtdickenmessung im Querschliff wird die Probe mit einem Präzisionsschleifer an der zu messenden Stelle mit minimaler Wärmeentstehung ganz präzise getrennt. Anschließend wird die Querschnittsfläche geschliffen und ggfs. auch noch poliert. Je nach Schichtdicke und Werkstoff wird die Probe zuvor in eine Einbettmasse eingebettet, um ein Ausbrechen der Beschichtung durchs Schleifen und Polieren zu verhindern.
An der geschliffenen Querschnittsfläche kann die Schichtdicke von Einzelschichten und ggfs. auch von Mehrschichtsystemen bestimmt werden. Die Messung ist weitgehend unabhängig von der Zusammensetzung der Schicht und des Grundwerkstoffes.
Schichtdickenmessung am Querschliff
- Vergrößerung: 50 – 1000x
- Max. lat. Auflösung: 0,3 µm
- Fokussiergenauigkeit: 1 µm
- Mikroskopkamera: 5 Mio. Pixel
- Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung
- Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver
Das Prinzip der Lichtmikroskopie besteht darin, dass ein räumlicher Bildausdruck erzeugt wird. Ein Mikroskop ist ein optisches Vergrößerungsgerät für das Betrachten von Objekten. Der Betrachter sieht durch das Okular ein vergrößertes, virtuelles Abbild des reellen Bildes. Das Lichtmikroskop besitzt zwei Tuben mit jeweils einem Okular, d.h. für jedes Auge wird ein getrennter Strahlengang bereitgestellt. Die optische Vergrößerung wird durch ein Hintereinanderschalten von Linsen erzeugt.
Bei einem Auflichtmikroskop wird die Probe i.d.R. durch den Strahlengang beleuchtet. Damit können metallurgische Aufnahmen von Schliffen und mikroskopische Messaufnahmen für Phasenanalysen und Partikelanalysen angefertigt werden. Eine weitere sehr nützliche Funktion des Auflichtmikroskops ist die Umstellung von Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung.
Steinbeis-Transferzentrum an der Dualen Hochschule Karlsruhe
Mitglied in Deutschlands Spitzencluster microTEC