Ebenheitsmessgerät Polytec TMS-100
Mit dem optischen Ebenheitsmessgerät wird die Ebenheit und Parallelität von Oberflächen sehr genau und mit einer höheren Genauigkeit als mit einer Koordinatenmessmaschine bestimmt. Es werden berührungslos Formabweichungen von geschliffenen, polierten, gefinishten oder geläppten Oberflächen im Mikrometer- und Submikrometerbereich bestimmt.
Das Oberflächenmessgerät TMS-100 TopMap ist ein Weißlichtinterferometer mit einem deutlich größeren Messfeld als bei einem WLI üblich. Es tastet die Oberfläche sehr präzise und berührungslos ab.
Wir bieten die optische Bestimmung von Ebenheits- und Parallelitätsabweichungen als Dienstleistung an.
- Metalle
- Keramiken
- Kunststoffe
- Gläser
- Ebenheit: ISO 12781
- Parallelität: ISO 1101
- Ergebnis optische Ebenheitsmessung
- Lichtquelle: Weißlicht
- Auflösung: 2.83 nm vertikal, 26.7 µm lateral
- Messfeld: 37 x 28 mm²
- Messbereich vertikal: 70 mm
- Schichtdicke: > 8 µm, max. 8 Einzelschichten
Das optische Ebenheits- und Parallelitätsmessgerät TMS-100 TopMap dient zur berührungslosen Messung der Ebenheit, Welligkeit und Krümmung (Warp, Bow) von glatten Oberflächen. Das optische Messprinzip gewährleistet eine hohe Genauigkeit von bis zu 0,1 µm absolut über das gesamte Messfeld. Durch die berührungslose Oberflächenmessung ist die optische Ebenheitsmessung für empfindliche Materialien geeignet. Das Spektrum der Oberflächenprüfung reicht von Bauteilen für die Automobil-, Luftfahrt- und Halbleiterindustrie bis hin zur Medizintechnik.
Steinbeis-Transferzentrum an der Dualen Hochschule Karlsruhe
Mitglied in Deutschlands Spitzencluster microTEC