Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) - Metallurgische Analyse
Die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA-Analyse), im englischen X-Ray Fluorescence Spectroscopy (XRF-Analyse) genannt, ist eine Technik zur Bestimmung der chemischen Elemente von Werkstoffen. Sie wird in der Materialanalyse und zur Schichtdickenbestimmung eingesetzt. Mit ihrer Hilfe können die in einer Probe enthaltenen Elemente präzise identifiziert werden. Dazu gehören Metalle, Legierungen und andere Materialien. Darüber hinaus können mit der RFA-Analyse auch die Schichtdicken von dünnen Beschichtungen bestimmt werden. Die Röntgenfluoreszenzanalyse funktioniert auch bei elektrisch nicht leitenden oder temperaturempfindlichen Materialien, da die Probe nicht erhitzt wird.
- Materialanalyse
- Oberflächenanalyse
- Beschichtungsanalyse
- Schadensanalyse
- Schichtdickenmessung
Als unabhängiges Auftragslabor führen wir Materialanalyse und Schichtdickenmessung mittels RFA (XRF) als Dienstleistung durch.
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) handelt es sich um ein Verfahren zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Materialien. Es ermöglicht sowohl die qualitative Analyse zur Identifikation vorhandener Elemente als auch die quantitative Analyse zur Ermittlung ihrer Konzentrationen.
Das Verfahren findet in zahlreichen Bereichen Anwendung. In der Metall- und Werkstoffanalyse wird die RFA beispielsweise zur Untersuchung von Metallen, Legierungen und Beschichtungen eingesetzt. In der Geologie dient sie der Analyse von Gesteinen, Mineralien und Erzen. Auch in der Baustoffindustrie spielt sie eine wichtige Rolle bei der Prüfung von Zement, Beton oder Kalkstein hinsichtlich definierter Materialeigenschaften und Spezifikationen. In der Umweltanalytik ermöglicht die Methode den Nachweis und die Bestimmung von Schwermetallen in Boden-, Wasser- und Luftproben. Darüber hinaus wird die RFA in der Glas- und Keramikindustrie zur Kontrolle von Rohstoffen und Endprodukten verwendet.
Ein weiterer bedeutender Einsatzbereich ist die zerstörungsfreie Schichtdickenmessung. Insbesondere bei dünnen Beschichtungen im Mikro- und Nanometerbereich ermöglicht die RFA eine präzise und Bestimmung der Schichtdicke.
Die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA, engl. XRF) ist ein schnelles, präzises und zerstörungsfreies Verfahren zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Feststoffen. Dabei wird das Material mit Röntgenstrahlung bestrahlt. Die energiereichen Photonen lösen Elektronen aus den inneren Elektronenschalen der Atome heraus. Die dabei entstehenden Leerstellen werden durch Elektronen aus äußeren Schalen aufgefüllt. Bei diesem Übergang wird charakteristische Röntgenstrahlung – die sogenannte Fluoreszenzstrahlung – emittiert.
Die Energie dieser Fluoreszenzstrahlung ist für jedes chemische Element eindeutig charakteristisch. Ein Detektor erfasst die ausgesandte Strahlung und erzeugt daraus ein Spektrum, dessen Peaks den enthaltenen Elementen zugeordnet werden können. Die Intensität der jeweiligen Peaks ist dabei proportional zur Konzentration der entsprechenden Elemente.
Neben der Materialanalyse eignet sich die Röntgenfluoreszenzanalyse auch hervorragend zur Schichtdickenmessung. Da die Intensität der Fluoreszenzstrahlung mit zunehmender Schichtdicke ansteigt, kann aus diesem Zusammenhang die Dicke einer Beschichtung bestimmt werden. Bei komplexen Mehrschichtsystemen ermöglicht die RFA zudem die getrennte Analyse der einzelnen Schichten. Unter Berücksichtigung der charakteristischen Strahlung der jeweiligen Elemente sowie der Absorptions- und Wechselwirkungseffekte innerhalb des Schichtsystems lassen sich die Dicken der einzelnen Schichten präzise berechnen.
- Galvanische Schichten: RFA wird häufig zur Bestimmung der Dicke von galvanischen Überzügen (wie Gold, Silber oder Nickel) verwendet.
- Beschichtete Substrate: In der Halbleiterindustrie wird das Verfahren zur Bestimmung der Dicke von Oxid- oder Metallschichten eingesetzt.
- Mehrschichtsysteme: Auch bei komplexen Schichtsystemen, z.B. in der Optik oder bei Mehrlagenbeschichtungen, wird die RFA eingesetzt.
- ISO 3497:2000
- VDI 3824-4 (4.2.3)
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