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Spektroskopische Reflektometrie

Mithilfe der spektroskopischen Reflektometrie können Schichtdicken transparenter Beschichtungen bestimmt werden. Dieses Verfahren gehört zu den optischen, zerstörungsfreien Schichtdickenmessverfahren. Es wird zur Bestimmung der Schichtdicke von transparenten Beschichtungen und der Dicke von transparenten Folien eingesetzt. Mithilfe des spektroskopischen Reflektometers können die Schichtdicken von Einzelschichten und von Mehrschichtsystemen ermittelt werden.

Als Steinbeis-Transferzentrum bieten wir optische Schichtdickenmessungen mittels spektroskopischer Reflektometrie als Dienstleistung an.

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