de en
Steinbeis Transferzentrum Tribologie
  • Oberflächenanalyse
    • Oberflächenanalyse
    • Lichtmikroskopie
    • Rasterelektronenmikroskopie
    • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
    • Oberflächenmessung
    • Kontur- und Formmessung
    • Materialanalyse
    • Oberflächenspannung messen
    • Benetzbarkeit
    • Reibungskoeffizient bestimmen
    • Abriebfestigkeit prüfen
  • Materialprüfung
    • Materialprüfung
    • Materialanalyse
    • Härteprüfung
    • Nanoindentation
    • Metallographie
    • Reibungskoeffizient bestimmen
    • Abriebfestigkeit prüfen
    • Dichtebestimmung
    • Rasterelektronenmikroskopie
    • Benetzbarkeit
    • Schadensanalyse
  • Beschichtungsanalyse
    • Beschichtungsanalyse
    • Beschichtungsdicke messen
    • Haftfestigkeitsprüfung
    • Härteprüfung
    • Materialanalyse
    • Reibungskoeffizient bestimmen
    • Abriebfestigkeit prüfen
    • Lichtmikroskopie
    • Rasterelektronenmikroskopie (REM Analyse)
  • Tribologie Untersuchungen
    • Tribologie Untersuchungen
    • Reibungskoeffizient bestimmen
    • Reibungszahl Schrauben messen
    • Abriebfestigkeit prüfen
  • Seminare
    • Seminar Tribologie
    • Seminar Rauheit & Rauheitsmessung
  • Wiki
    • Oberflächenmessung
    • Härteprüfung
    • Beschichtungsdicke messen
  • Unternehmen
    • Unternehmen
    • Laborausstattung
    • Veröffentlichungen
    • Kontakt
  • Englisch
  • Deutsch
  • Click to open the search input field Click to open the search input field Suche
  • Menü Menü
  • Oberflächenanalyse
    • Lichtmikroskopie
    • Oberflächenmessung
    • Kontur- und Formmessung
  • Materialprüfung
  • Beschichtungsanalyse
  • Tribologie Untersuchungen
  • Seminare
    • Seminar Tribologie
    • Seminar Rauheit & Rauheitsmessung
  • Wiki
    • Oberflächenmessung
    • Härteprüfung
    • Beschichtungsdicke messen
  • Kontakt
Startseite1 Wirbelstrom-Verfahren

SCHICHTDICKENMESSUNG WIKI

  • Schichtdickenmessung
  • Querschliff-Methode
  • Stufenhöhenmessung
  • Kalottenschliff-Methode
  • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
  • Röntgenspektroskopie (EDX)
  • Optische Schichtdickenmessung
  • Wirbelstrom-Verfahren
  • Magnetinduktives Verfahren

Wirbelstrom-Verfahren

Das Wirbelstromverfahren wird in der Beschichtungstechnik hauptsächlich zur Schichtdickenmessung von elektrisch nichtleitenden Schichtwerkstoffen auf nichtmagnetischen metallischen Grundwerkstoffen eingesetzt. Es nutzt die Wechselwirkung zwischen einem elektromagnetischen Feld und dem elektrisch leitenden Substratmaterial. Hauptanwendung ist die Schichtdickenmessung von Eloxalschichten auf Aluminium und von Lacken auf nichtmagnetischem Stahl.

Wir führen als Steinbeis-Transferzentrum Schichtdickenmessungen mit dem Wirbelstrom-Verfahren als Dienstleistung durch.

Beschichtungen

  • Messung von anodischen Schichten (z.B. Eloxalschichten) auf Aluminium
  • Farb-, Email-, Lack- oder Kunststoff-Schichten auf Alu, Messing, Bronze, Kupfer, Blei, Titan, Zink, nicht magnetischer Stahl
  • Schichtdicke: 5 – 2000 µm

Verfahren

Zur Schichtdickenmessung wird eine Spule, die als Messsonde in einem Gehäuse gekapselt ist, mit hochfrequentem Wechselstrom beaufschlagt, so dass sie ein elektromagnetisches Feld ausbildet. Das Spulenfeld induziert in einem elektrisch leitenden Material Wirbelströme, die ihrerseits das Magnetfeld der Spule rückwirkend beeinflussen. Die Größe dieser Rückwirkung hängt insbesondere vom Abstand (Schichtdicke) zwischen Spule und elektrisch leitfähigem Untergrund ab und kann als Änderung der Spuleninduktivität gemessen werden. Dabei nimmt die Spuleninduktivität im Bereich kleiner Abstände zwischen Spule und metallischem Untergrund mit zunehmendem Abstand ab, wodurch die Schichtdicke messbar wird.

Wirbelstrom-Verfahren

Normen

  • ISO 2360:2017

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für eine Schichtdickenmessung.

Jetzt anfragen

Schichtdickenmessung

Die Schichtdicke ist neben der Härte und der Haftfestigkeit ein wichtiges Merkmal einer Beschichtung. Denn stimmt diese nicht, kann es zum Schichtversagen kommen und somit zum Totalausfall eines Bauteils. Je nach Beschichtungsart, Schichtdicke und Substrat kommen unterschiedliche Methoden zur Bestimmung der Stärke einer Beschichtung zum Einsatz.

  • Querschliff-Methode
  • Stufenhöhenmessung
  • Kalottenschliff-Methode
  • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA, XRF)
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
  • Reflektometer
  • Weißlichtinterferometer
  • Konfokalmikroskop
  • Wirbelstrom-Verfahren
  • Magnetinduktives Verfahren
  • Photothermie

Beschichtungen
Aufgaben und Eigenschaften

Beschichtungen sind Überzüge auf einem Bauteile, welche dazu aufgebracht werden, um einer Oberfläche Eigenschaften zu verleihen, die mit dem eigentlichen Werkstoff des Bauteils nicht zu erreichen sind. Das sind:

  • Korrosionsschutz
  • Optisches Erscheinungsbild
  • Verschleißschutz
  • Veränderung der Reibeigenschaften (reiberwertmindernd oder reibwerterhöhend)

Beschichtungen sind neben der Farbe und Oberflächenrauheit definiert durch:

  • Schichthärte
  • Schichtdicke
  • Haftfestigkeit
  • Reibwert
  • Verschleißverhalten
  • Chemische Elementzusammensetzung
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

Impressum - Datenschutz
© Steinbeis Transferzentrum | Webseite erstellt von Neckarmedia Werbeagentur
Nach oben scrollen Nach oben scrollen Nach oben scrollen

Wir nutzen Cookies um Ihnen eine angenehmere Erfahrung mit unserer Webseite zu bieten, zur Erhebung statistischer Daten sowie zum Onlinemarketing. Klicken Sie auf „Essentielle und statische Cookies akzeptieren“, um alle Cookies zu akzeptieren oder klicken Sie auf "Nur essentielle Cookies akzeptieren" für die Basisfunktionalität unserer Webseite. Via "Individuelle Cookie Einstellungen" erhalten Sie eine detaillierte Beschreibung der von uns verwendeten Arten von Cookies und Informationen über die entsprechenden Anbieter. Sie können dort entscheiden, welche Arten von Cookies bei der Nutzung unserer Website gesetzt werden sollen.

Essentielle und statische Cookies akzeptierenNur essentielle Cookies akzeptierenIndividuelle Cookie EinstellungenDatenschutzerklärung

Individuelle Cookie Einstellungen



Statistik Cookies

Statistik Cookies erfassen Informationen anonym. Diese Informationen helfen uns zu verstehen, wie unsere Besucher unsere Website nutzen.

Essenzielle Cookies

Essenzielle Cookies ermöglichen grundlegende Funktionen und sind für die einwandfreie Funktion der Website erforderlich.

Einstellungen speichernNur essenzielle Cookies akzeptieren
Nachrichtenleiste öffnen Nachrichtenleiste öffnen Nachrichtenleiste öffnen
  • kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
  • +49 721 9735 831
  • Kontaktformular