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Stufenhöhe
von Oberflächen

Stufenhöhen als Oberflächenstrukturen werden entweder durch optische Messverfahren (Weißlichtinterferometer, Konfokalmikroskop) gemessen oder mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM). Dabei wird eine der Ebenen der Stufe als Bezug genommen.

Zur Bestimmung der Schichtdicke über eine Stufenhöhenmessung dient ein taktiles Messgerät (Profilometrie), optische Messgeräte (Konfokalmikroskop, Weißlichtinterferometer) oder ein Rasterkraftmikroskop (AFM). Mit diesen wird eine Konturmessung über die Grenze zwischen beschichtetem und unbeschichtetem Bereich durchgeführt und anschließend über den mittleren Höhenunterschied die Schichtdicke berechnet. Der Vorteil des Verfahrens ist, dass keine besonderen Kenntnisse über die Materialen der Beschichtung und des Grundwerkstoffes erforderlich sind.

Zur Erzeugung einer Stufe wird ein Referenzplättchen mit in den Beschichtungsprozess gegeben und dieses teilweise mit einem rückstandsfrei ablösbaren Klebeband maskiert. Dies ermöglicht es eine möglichst gute Kante zwischen beschichtetem und unbeschichtetem Bereich zu erzeugen.

Laborausstattung

  • Konfokalmikroskop
  • Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Rasterkraftmikroskop (AFM)

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Stufenhöhenmessungen.

Jetzt anfragen

Oberflächen- und Rauheitsmessung

Wir führen Oberflächen- und Rauheitsmessungen durch, um Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die Profil-Kennwerte 2D und die Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche erfolgen.

Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien bestimmt werden. Diese Oberflächen- und Rauheitsmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und empfindliche Oberflächenstrukturen nicht zu verändern. Für besonders hohe Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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