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Stufenhöhe
von Oberflächen

Stufenhöhen als Oberflächenstrukturen werden entweder durch optische Messverfahren (Weißlichtinterferometer, Konfokalmikroskop) gemessen oder mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM). Dabei wird eine der Ebenen der Stufe als Bezug genommen.

Zur Bestimmung der Schichtdicke über eine Stufenhöhenmessung dient ein taktiles Messgerät (Profilometrie), optische Messgeräte (Konfokalmikroskop, Weißlichtinterferometer) oder ein Rasterkraftmikroskop (AFM). Mit diesen wird eine Konturmessung über die Grenze zwischen beschichtetem und unbeschichtetem Bereich durchgeführt und anschließend über den mittleren Höhenunterschied die Schichtdicke berechnet. Der Vorteil des Verfahrens ist, dass keine besonderen Kenntnisse über die Materialen der Beschichtung und des Grundwerkstoffes erforderlich sind.

Zur Erzeugung einer Stufe wird ein Referenzplättchen mit in den Beschichtungsprozess gegeben und dieses teilweise mit einem rückstandsfrei ablösbaren Klebeband maskiert. Dies ermöglicht es eine möglichst gute Kante zwischen beschichtetem und unbeschichtetem Bereich zu erzeugen.

Laborausstattung

  • Konfokalmikroskop
  • Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Rasterkraftmikroskop (AFM)

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Stufenhöhenmessungen.

Jetzt anfragen

Oberflächenmessung im STZ

Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus den Messungen werden die 2D-Profilkenngrößen und die 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung der Oberflächenstrukturen ermittelt. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen auch Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen etc.) durchgeführt werden.

Die umfangreiche und moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Messung nahezu aller Arten von Oberflächen. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch erfassen zu können. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Mikrostruktur von Oberflächen mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Zu den Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Oberflächencharakterisierung nach der neuen Norm ISO21920:2021 bieten wir sowohl offene als auch Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der neuen ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis -3:2021 (profilierte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt und grundlegend verändert.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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