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Startseite1 Stufenhöhe

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Stufenhöhe

Begriffsdefinition Stufenhöhe

Stufenhöhen als Oberflächenstrukturen werden entweder durch optische Messverfahren (Weißlichtinterferometer, Konfokalmikroskop) gemessen oder mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM). Dabei wird eine der Stufen als Bezug genommen.

Anwendung Messung Stufenhöhe

Über eine Stufenmessung wird beispielsweise die Schichtdicke einer Beschichtung auf der Oberfläche bestimmt. In der ISO 18452 ist die Durchführung als taktile Messung beschrieben, wobei aber in der heutigen Zeit die Messungen mit optischen Messgeräten berührungslos durchgeführt werden.

Beispiel für Oberfläche mit Stufe

Wir bieten Oberflächenmessungen mit anschließender Bestimmung von Stufenhöhen als Dienstleistung an.

Laborausstattung für Messung der Stufenhöhe

  • Konfokalmikroskop
  • Weißlichtinterferometer
  • Rasterkraftmikroskop

Die Oberfläche eines Bauteils bestimmt deren Funktion (Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten) und das optische Erscheinungsbild. Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D von Bauteilen durch. Dabei können wir Rauheiten und Welligkeiten von Oberflächen vom Mikrometerbereich bis in den Nanometerbereich bestimmen und das von nahezu allen Materialien. Aus den Messergebnissen werden anschließend die normgerechten Kenngrößen 2D/3D berechnet.

Durch unsere umfassende Laborausstattung können die Oberflächen von allen Materialien (z.B. Metalle, Kunststoffe, Keramiken, Gläser) gemessen werden. Und wenn das Bauteil mal zu groß sein sollte, dann formen wir die Oberfläche ab und vermessen anschließend diese. Die Oberflächenmessungen führen wir überwiegend mit optisch mit Konfokalmikroskopen und Weißlichtinterferometern durch. Für höchstauflösende Oberflächenmessen setzen wir ein Rasterkraftmikroskop ein, mit dem die Topografie (AFM) und die Leitfähigkeit (C-AFM) einer Oberfläche ortsaufgelöst gemessen werden. Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kenngrößen zur Beschreibung von Oberflächen.

Wir arbeiten auf der wissenschaftlichen Basis einer Hochschule, mit der Handlungskompetenz eines Industrieunternehmens.

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen für die Bestimmung der Stufenhöhe.

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Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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