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Ebenheit
von Oberflächen

Die Ebenheit gehört zu den Form- und Lagetoleranzen nach ISO 1101 und es handelt sich dabei um die Toleranzzone für eine Fläche. Wir prüfen die Ebenheit bzw. die Ebenheitsabweichung von Oberflächen durch taktile und optische Messungen als Dienstleistung.

Dazu wird durch die „Mitte“ der Fläche ein Referenzelement gelegt, entweder nach der Methode der Kleinste Fehlerquadrate (LS – least square ) oder nach der Methode der Minimal Zone (MZ – minimum zone ). Anschließend werden parallel zu diesem Referenzelement Flächen durch die maximale Erhabenheit und durch die minimale Senke gelegt. Dieser ist die Ebenheitsabweichung und entspricht der Spitze zu Tal Formabweichung FLTt nach ISO 12781.

Bedeutung

Die Ebenheit einer Oberfläche spielt bei bewegten Tribosystemen (Führungen, Lagern), bei elektrischen Leiterplatten und Gläsern und Kamerachips ein wichtige Rolle. Die Prüfung der Ebenheit erfolgt je nach Anforderung an die Genauigkeit optisch oder taktil. Die Ebenheiten von feingeschliffenen, polierten, gefinishten oder geläppten Oberflächen werden optisch bestimmt.

Ebenheit prüfen

Klassisch wird die Ebenheit einer Oberfläche mit einer 3D-Koordinatenmessmaschine taktil gemessen. Hierzu wird die Oberfläche im Einzelpunkt-Betrieb mit einen Messtaster taktil angetastet und daraus die Ebenheitsabweichung berechnet.

Bei höheren Genauigkeitsanforderung an die Messung der Ebenheitsabweichung erfolgt die Messung der Oberfläche optisch. Dies ist mit Konfokalmikroskopen als auch mit Weißlichtinterferometern möglich. Mit einem Weißlichtinterferometer lassen sich auch große relativ große Einzelmessfelder realisieren und damit eine Genauigkeit von bis zu 0.1 µm absolut über das gesamte Messfeld erzielen.

Laborausstattung

  • 3D-Koordinatenmessmaschine
  • Konfokalmikroskop
  • Weißlichtinterferometer
  • Optisches Ebenheitsmessgerät (WLI)

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Ebenheitsmessungen.

Jetzt anfragen

Oberflächen- und Rauheitsmessung

Wir führen Oberflächen- und Rauheitsmessungen durch, um Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die Profil-Kennwerte 2D und die Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche erfolgen.

Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien bestimmt werden. Diese Oberflächen- und Rauheitsmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und empfindliche Oberflächenstrukturen nicht zu verändern. Für besonders hohe Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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