Ebenheit
Die Ebenheit bzw. Ebenheitsabweichung ist ein Maß für die Form einer Oberfläche. Sie gibt an, ob alle Punkte entlang dieser Oberfläche in derselben Ebene liegen. In der Auswertung von Form-Lage-Toleranzen wird die Ebenheit durch ein Parallelogramm symbolisiert. Die Toleranz für die Ebenheit stellt sicher, dass sich eine bestimmte Oberfläche innerhalb zweier imaginärer, perfekter und paralleler Ebenen befindet.
Wir messen im Steinbeis-Transferzentrum die Ebenheit von Oberflächen als Dienstleistung.
Warum ist Ebenheit wichtig?
Die Ebenheit ist entscheidend, wenn Teile zusammengefügt werden müssen, um eine dichte Verbindung herzustellen. Sie beeinflusst die Funktionalität und Leistung von Bauteilen, insbesondere in bewegten Tribosystemen, elektrischen Leiterplatten und Kamerachips.
Ebenheit prüfen
Klassischerweise wird die Ebenheit einer Oberfläche taktil mit einer 3D-Koordinatenmessmaschine gemessen. Dabei wird die Oberfläche im Einzelpunktbetrieb mit einem Messtaster taktil angetastet und daraus die Ebenheitsabweichung berechnet.
Bei höheren Genauigkeitsanforderungen an die Messung der Ebenheitsabweichung erfolgt die Vermessung der Oberfläche optisch. Dies ist sowohl mit konfokalen Mikroskopen als auch mit Weißlichtinterferometern möglich. Mit einem Weißlichtinterferometer lassen sich auch relativ große Einzelmessfelder realisieren und damit Genauigkeiten von bis zu 0,1 µm absolut über das gesamte Messfeld erreichen.
Laborausstattung
- 3D-Koordinatenmessmaschine
- Konfokalmikroskop
- Weißlichtinterferometer
- Optisches Ebenheitsmessgerät (WLI)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für eine Ebenheitsmessung.
Oberflächen- bzw. Rauheitsmessung
Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir präzise Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichungen durch. Dabei ermitteln wir sowohl Linien-Kenngrößen (2D) als auch Flächen-Kenngrößen (3D) zur quantitativen Charakterisierung von Oberflächenstrukturen. Auf Basis dreidimensionaler optischer Messungen analysieren wir zudem spezielle Merkmale wie Poren, Fehlstellen, Riefen oder Spitzen.
Unsere moderne Laborausstattung ermöglicht die Messung nahezu aller Oberflächenarten. Hauptsächlich nutzen wir optische Verfahren, um alle funktionsrelevanten Strukturen vollständig zu erfassen. Für besonders hohe laterale Auflösungen setzen wir zusätzlich ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Mikrostrukturanalyse ein.
Zum Thema Rauheit und Rauheitsmessung nach ISO 21920:2021 bieten wir praxisnahe Seminare – sowohl offen als auch als Inhouse-Veranstaltung – an. Die neue Norm bringt zahlreiche Änderungen bei Kenngrößen, Zeichnungsangaben und Messverfahren mit sich und ersetzt die meisten der bisherigen. Ohne Anpassung bestehender Zeichnungen steigt das Risiko von Qualitätsproblemen und Rechtsstreitigkeiten erheblich.
Während Oberflächengüten früher mit Kenngrößen wie Ra, Rz und Rmax fertigungsbezogen beschrieben wurden, erfolgt heute eine funktionale Charakterisierung: Mikrostrukturen werden über geeignete Kenngrößen quantitativ erfasst – und damit gezielt an die jeweilige Funktion der Oberfläche angepasst.