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Startseite1 Profil-Welligkeit 2D

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Profil-Welligkeit 2D
von Oberflächen

Die Profil-Welligkeit 2D wird durch linienhafte Messungen der Oberflächenstruktur bestimmt. Dazu wird eine taktile oder optische Messung der Oberfläche durchgeführt und anschließend die langwelligen Anteile in Form des Welligkeitsprofils herausgefiltert. Aus diesem werden die ISO-konformen Kenngrößen für die Welligkeit nach der ISO 4287 und der neuen ISO 21920-2 bestimmt. Diese internationalen Normen stellen ein umfangreiches Angebot an Kennwerten zur Verfügung, um gezielt bestimmte Merkmale der Oberfläche quantitativ zu beschreiben.

Die Profil-Welligkeit 2D und die daraus berechneten Welligkeitskennwerte dienen dazu das funktionale Verhalten einer Oberfläche bzgl. Reibung, Verschleiß, Dichtheit, Einlaufverhalten und Tragfähigkeit zu charakterisieren.

Laborausstattung

  • Konfokalmikroskop
  • Konfokales Laser Scanning Mikroskop
  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Optisches Ebenheitsmessgerät
  • Taktiles Rauheitsmessgerät

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.

Jetzt anfragen

Oberflächen- und Rauheitsmessung

Wir führen Oberflächen- und Rauheitsmessungen durch, um Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die Profil-Kennwerte 2D und die Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche erfolgen.

Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien bestimmt werden. Diese Oberflächen- und Rauheitsmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und empfindliche Oberflächenstrukturen nicht zu verändern. Für besonders hohe Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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