de en
Steinbeis Transferzentrum Tribologie
  • Oberflächenanalyse
  • Oberflächenmessung 2D/3D
  • Materialprüfung und -analyse
  • Beschichtungsanalyse
  • Schadensanalyse
  • Tribologie
    • Tribologie Informationen
    • Tribologie Analysen
    • Reibwertmessung
    • Verschleißprüfung
    • Schadensanalyse
  • Seminare
    • Seminar Tribologie
    • Seminar Rauheit & Rauheitsmessung
  • Wiki
    • Oberflächenmessung
    • Härteprüfung
    • Schichtdickenmessung
  • Unternehmen
    • Das Unternehmen
    • Laborausstattung
    • Veröffentlichungen
    • Kontakt und Anfrage
  • Englisch
  • Deutsch
  • Suche
  • Menü Menü
  • Oberflächenanalyse
    • Oberflächen- und Rauheitsmessung 2D/3D
    • Maß-, Form- und Lagemessung
    • Lichtmikroskopie
  • Materialprüfung
  • Beschichtungsanalyse
  • Tribologie
  • Seminare
    • Seminar Tribologie
    • Seminar Rauheit & Rauheitsmessung
  • Wiki
    • Oberflächenmessung
    • Härteprüfung
    • Schichtdickenmessung
  • Kontakt
Startseite1 Profil-Welligkeit 2D

OBERFLÄCHENMESSUNG WIKI

  • Profil-Rauheit 2D
  • Profil-Welligkeit 2D
  • Flächen-Rauheit 3D
  • Flächen-Welligkeit 3D
  • Rauheitsmessung 2D/3D
  • Drallmessung
  • Oberflächenangaben Zeichnung
  • Ebenheit
  • Furchen
  • Geradheit
  • Isotropie
  • Kontur
  • Partikel
  • Parallelität
  • Reale Oberfläche
  • Rückhaltevolumen
  • Oberflächenspitzen
  • Stufenhöhe
  • Strukturanalyse
  • Textur
  • Traganteil

Profil-Welligkeit 2D
von Oberflächen

Die Profil-Welligkeit 2D entsteht indem durch die Oberflächenmikrostrukturen, die durch Unregelmäßigkeiten aus den Fertigungsprozessen entstehen, ein Linienschnitt gelegt wird. Die Profil-Welligkeit 2D wird durch linienhafte Messungen der Unregelmäßigkeiten einer Oberfläche bestimmt. Dazu wird eine Profilmessung der Oberfläche durchgeführt und anschließend die langwelligen Profilanteile in Form des Welligkeitsprofils abgetrennt. Aus diesem werden die ISO-konformen Kenngrößen für die Welligkeit nach der ISO 4287 und der neuen ISO 21920 bestimmt. Diese internationalen Normen stellen ein umfangreiches Angebot an Kennwerten zur Verfügung, um gezielt bestimmte Merkmale der Oberfläche quantitativ zu beschreiben.

Profil-Welligkeit 2D – Bedeutung

Die Profil-Welligkeit 2D und die daraus berechneten Welligkeitskennwerte dienen dazu das funktionale Verhalten der Oberflächenstruktur bzgl. Reibung, Verschleiß, Dichtheit, Einlaufverhalten und Tragfähigkeit zu charakterisieren sowie das optische Erscheinungsbild einer Oberfläche.

Laborausstattung

  • Konfokalmikroskop
  • Konfokales Laser Scanning Mikroskop
  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Optisches Ebenheitsmessgerät
  • Taktiles Rauheitsmessgerät

Welligkeit messen

Das Welligkeitsprofil einer Oberfläche wird mit taktilen oder mit optischen Messgeräten vermessen und werden die Kennwerte nach den internationalen Normen ISO 4287, ISO 13565 und ISO 21920 berechnet. Die Messung der Welligkeit als Profil-Welligkeit 2D liefert nur für periodische (regelmäßige) Oberflächenstrukturen brauchbare Ergebnisse. Dagegen müssen aperiodische (nicht regelmäßige) Oberflächenstrukturen über die Flächen-Welligkeit 3D charakterisiert werden. Diese wird durch optische Messgeräte ermittelt, welche die Oberfläche vollständig erfasst.

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für die Bestimmung der Profl-Welligkeit 2D.

Jetzt anfragen

Oberflächenmessung 2D/3D

Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D durch, um die Rauheit, Welligkeit, Ebenheit und Mikrostruktur von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die ISO-konformen 2D- und 3D-Oberflächenkennwerte berechnet, um die für die Funktion wichtigen Strukturen durch quantitative Größen zu beschreiben. Die Bauteiloberfläche bestimmt deren Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten sowie das optische Erscheinungsbild.

Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien 2D/3D bestimmt werden. Diese Oberflächenmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine ausreichende Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und die empfindliche Oberflächenfeinstruktur nicht zu beschädigen. Für besonders hohe Auflösungen im Nanometerbereich bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kennwerten zur Beschreibung von Oberflächen. Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.

Oberflächenmessung 2D/3D
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

Impressum - Datenschutz
© Steinbeis Transferzentrum | Webseite erstellt von Neckarmedia Werbeagentur
Nach oben scrollen

Wir nutzen Cookies um Ihnen eine angenehmere Erfahrung mit unserer Webseite zu bieten, zur Erhebung statistischer Daten sowie zum Onlinemarketing. Klicken Sie auf „Essentielle und statische Cookies akzeptieren“, um alle Cookies zu akzeptieren oder klicken Sie auf "Nur essentielle Cookies akzeptieren" für die Basisfunktionalität unserer Webseite. Via "Individuelle Cookie Einstellungen" erhalten Sie eine detaillierte Beschreibung der von uns verwendeten Arten von Cookies und Informationen über die entsprechenden Anbieter. Sie können dort entscheiden, welche Arten von Cookies bei der Nutzung unserer Website gesetzt werden sollen.

Essentielle und statische Cookies akzeptierenNur essentielle Cookies akzeptierenIndividuelle Cookie EinstellungenDatenschutzerklärung

Individuelle Cookie Einstellungen



Statistik Cookies

Statistik Cookies erfassen Informationen anonym. Diese Informationen helfen uns zu verstehen, wie unsere Besucher unsere Website nutzen.

Essenzielle Cookies

Essenzielle Cookies ermöglichen grundlegende Funktionen und sind für die einwandfreie Funktion der Website erforderlich.

Einstellungen speichernNur essenzielle Cookies akzeptieren
Nachrichtenleiste öffnen
  • kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
  • +49 721 9735 831
  • Kontaktformular