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Textur
von Oberflächen

Die Analyse von Texturen (Vorzugsrichtungen) einer Oberfläche dient dazu die Ausprägung von Furchen (Riefen), die durch den Fertigungsprozess entstehen, zu charakterisieren. Dazu werden hochauflösende optische Oberflächenmessungen durchgeführt und anschließend die Furchen (Riefen) bzgl. Richtung, Länge, Tiefe, Breite, Fläche und Dichte ausgewertet.

Eine Textur an einer Oberfläche, wie es ich beispielsweise bei Riefen handelt, bestimmt durch Form, Größe und Richtung das Dicht- und Schmierverhalten von tribologischen Systemen. Bei geschmierten Systemen entscheiden die Riefen in Größe und Orientierung wie schnell und wie stabil sich ein hydrodynamischer Schmierfilm zur Trennung von Oberflächen aufbaut. Bei Gleitlagern ist eine Hauptriefenrichtung senkrecht zur Bewegungsrichtung vorteilhaft zum Schmierfilmaufbau.

Laborausstattung

  • Konfokalmikroskop
  • Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Rasterkraftmikroskop (AFM)

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.

Jetzt anfragen

Oberflächen- und Rauheitsmessung

Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus den Messungen werden die 2D-Profilkenngrößen und die 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung der Oberflächenstrukturen ermittelt. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen auch Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen etc.) durchgeführt werden.

Die umfangreiche und moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Messung nahezu aller Arten von Oberflächen. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch erfassen zu können. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Mikrostruktur von Oberflächen mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Zu den Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Oberflächencharakterisierung nach der neuen Norm ISO21920:2021 bieten wir sowohl offene als auch Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der neuen ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis -3:2021 (profilierte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt und grundlegend verändert.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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