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Startseite1 Parallelität

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Parallelität

Die Parallelitätsmessung dient dazu die Parallelität von zwei Oberfläche, Achsen oder Linien zu bestimmen. Diese gehört zu den Form- und Lagetoleranzen nach ISO 1101 und es handelt sich bei der Parallelität um die Abweichung zwischen zwei idealen Flächen, Linien oder Achsen zwischen denen alle Punkte des tolerierten Elements liegen, die zum Bezug parallel sind. Wir bestimmen die Parallelität(sabweichung) durch taktile und optische Messungen als Dienstleistung.

Dazu wird durch die „Mitte“ der Bezugsachse, -fläche oder -linie ein Referenzelement gelegt, entweder nach der Methode der Kleinste Fehlerquadrate (LS – least square ) oder nach der Methode der Minimal Zone (MZ – minimum zone). Anschließend werden parallel zu diesem Referenzelement Achsen, Flächen oder Linien durch die maximale Erhabenheit und die minimale Senke gelegt. Dieser Abstand der beiden Flächen, Linien, Achsen oder der Durchmesser des Toleranzzylinders ist die Parallelitätsabweichung.

Bedeutung

Die Parallelität von Oberflächen ist eine wichtige Kenngröße bei Führungen und Lagern sowie bei Dichtflächen.. Die Prüfung der Ebenheit erfolgt je nach Anforderung an die Genauigkeit optisch oder taktil. Die Parallelitäten von feingeschliffenen, polierten, gefinishten oder geläppten Oberflächen werden optisch bestimmt.

Parallelität prüfen

Klassisch wird die Parallelität von Flächen mit einer 3D-Koordinatenmessmaschine taktil vermessen. Hierzu werden die Oberflächen im Einzelpunkt-Betrieb mit einen Messtaster taktil angetastet und daraus die Parallelitätsabweichung berechnet.

Bei höheren Genauigkeitsanforderung an die Messung der Parallelitätsabweichung erfolgt die Messung der Oberfläche optisch. Dies ist mit Konfokalmikroskopen als auch mit Weißlichtinterferometern möglich. Mit einem Weißlichtinterferometer lassen sich auch große relativ große Einzelmessfelder realisieren und damit eine Genauigkeit von bis zu 0.1 µm absolut über das gesamte Messfeld erzielen.

Laborausstattung

  • 3D-Koordinatenmessmaschine
  • Konfokalmikroskop
  • Weißlichtinterferometer
  • Optisches Ebenheitsmessgerät (WLI)

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Parallelitätsmessungen.

Jetzt anfragen

Oberflächenmessung im STZ

Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus den Messungen werden die 2D-Profilkenngrößen und die 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung der Oberflächenstrukturen ermittelt. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen auch Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen etc.) durchgeführt werden.

Die umfangreiche und moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Messung nahezu aller Arten von Oberflächen. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch erfassen zu können. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Mikrostruktur von Oberflächen mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Zu den Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Oberflächencharakterisierung nach der neuen Norm ISO21920:2021 bieten wir sowohl offene als auch Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der neuen ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis -3:2021 (profilierte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt und grundlegend verändert.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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