Parallelität
von Oberflächen
Die Parallelität bzw. die Parallelitätsabweichung beschreibt nach ISO 1101 die Abweichung zwischen zwei idealen Achsen, Flächen oder Linien zwischen denen alle Punkte des tolerierten Elements liegen, die zum Bezug parallel sind.
Dazu wird durch die „Mitte“ der Bezugsachse, -fläche oder -linie ein Referenzelement gelegt, entweder nach der Methode der Kleinste Fehlerquadrate (LS – least square ) oder nach der Methode der Minimal Zone (MZ – minimum zone). Anschließend werden parallel zu diesem Referenzelement Achsen, Flächen oder Linien durch die maximale Erhabenheit und die minimale Senke gelegt. Der Abstand t dieser beiden Flächen, Linien oder der Durchmesser t des Toleranzzylinders ist die Parallelitätsabweichung.
Die Parallelität gehört zu den Formtoleranzen und ist eine wichtige Kenngröße bei Führungen und Lagern sowie bei Dichtflächen.
Parallelität prüfen
Klassisch wird die Parallelität von Flächen mit einer 3D-Koordinatenmessmaschine taktil vermessen. Hierzu werden die Oberflächen im Einzelpunkt-Betrieb mit einen Messtaster taktil angetastet und daraus die Parallelitätsabweichung berechnet.
Bei höheren Genauigkeitsanforderung an die Messung der Parallelitätsabweichung erfolgt die Messung der Oberfläche optisch. Dies ist mit Konfokalmikroskopen als auch mit Weißlichtinterferometern möglich. Mit einem Weißlichtinterferometer lassen sich auch große relativ große Einzelmessfelder realisieren und damit eine Genauigkeit von bis zu 0.1 µm absolut über das gesamte Messfeld erzielen.
Laborausstattung
- 3D-Koordinatenmessmaschine
- Konfokalmikroskop
- Weißlichtinterferometer
- Optisches Ebenheitsmessgerät (WLI)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Parallelitätsmessungen.
Oberflächen- und Rauheitsmessung
Wir führen Oberflächen- und Rauheitsmessungen durch, um Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die Profil-Kennwerte 2D und die Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche erfolgen.
Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien bestimmt werden. Diese Oberflächen- und Rauheitsmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und empfindliche Oberflächenstrukturen nicht zu verändern. Für besonders hohe Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.