Parallelität
von Oberflächen
Die Parallelität beschreibt nach ISO 1101 die Abweichung zwischen zwei idealen Oberflächen oder Geraden zwischen denen alle Punkte des tolerierten Elements liegen, die zum Bezug parallel sind.
Bedeutung
Die Parallelität gehört zu den Formtoleranzen und ist eine wichtige Kenngröße bei Führungen und Lagern sowie bei Dichtflächen.
Parallelität prüfen
Klassisch wird die Parallelität von Flächen mit einer 3D-Koordinatenmessmaschine taktil vermessen. Hierzu werden die Oberflächen im Einzelpunkt-Betrieb mit einen Messtaster taktil angetastet und daraus die Parallelitätsabweichung berechnet.
Bei höheren Genauigkeitsanforderung an die Messung der Parallelitätsabweichung erfolgt die Messung der Oberfläche optisch. Dies ist mit Konfokalmikroskopen als auch mit Weißlichtinterferometern möglich. Mit einem Weißlichtinterferometer lassen sich auch große relativ große Einzelmessfelder realisieren und damit eine Genauigkeit von bis zu 0.1 µm absolut über das gesamte Messfeld erzielen.
Laborausstattung
- 3D-Koordinatenmessmaschine
- Konfokalmikroskop
- Weißlichtinterferometer
- Optisches Ebenheitsmessgerät (WLI)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für die Bestimmung der Parallelität.
Oberflächenmessung 2D/3D
Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D durch, um die Rauheit, Welligkeit, Ebenheit und Mikrostruktur von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die ISO-konformen 2D- und 3D-Oberflächenkennwerte berechnet, um die für die Funktion wichtigen Strukturen durch quantitative Größen zu beschreiben. Die Bauteiloberfläche bestimmt deren Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten sowie das optische Erscheinungsbild.
Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien 2D/3D bestimmt werden. Diese Oberflächenmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine ausreichende Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und die empfindliche Oberflächenfeinstruktur nicht zu beschädigen. Für besonders hohe Auflösungen im Nanometerbereich bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kennwerten zur Beschreibung von Oberflächen. Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.