3D-Flächen-Welligkeit
Die 3D-Welligkeit sind die periodischen Unregelmäßigkeiten der Struktur einer Oberfläche, die durch flächenhafte optische Messungen bestimmt werden. Als Messgeräte zur vollständigen dreidimensionalen Vermessung der Oberflächenmikrostruktur werden z.B. konfokale Mikroskope und Weißlichtinterferometer eingesetzt. Bei diesen tastet ein feiner Lichtstrahl die Oberfläche berührungslos und präzise ab. Aus dieser Messungen werden die langwelligen Anteile als Welligkeitsoberfläche herausgefiltert und anschließend die 3D-Flächen-Kennwerte bestimmt.
Bedeutung der Welligkeit
Die Charakterisierung der Welligkeit ist wichtig, da sie Auswirkungen auf die Leistung und Qualität von Bauteilen in verschiedenen Anwendungen haben kann. Beispielsweise ist die Welligkeit einer Oberflächen entscheidend für die Höhe der lokalen Kontaktpressung. Somit hat die Welligkeit einen großen Einfluss auf das Tragfähigkeit sowie auf das Einlaufverhalten und somit auf Reibung und Verschleiß. Des Weiteren bestimmt diese neben der Rauheit die Dichtfunktion bei dichtenden Tribosystemen.
Messgeräte im STZ
- Konfokalmikroskop
- Konfokales Laser Scanning Mikroskop
- Weißlichtinterferometer (WLI)
- Optisches Ebenheitsmessgerät
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächen- bzw. Rauheitsmessung
Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus den Messungen werden die 2D-Profilkenngrößen und die 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung der Oberflächenstrukturen ermittelt. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen auch Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen etc.) durchgeführt werden.
Die umfangreiche und moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Messung nahezu aller Arten von Oberflächen. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch erfassen zu können. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Mikrostruktur von Oberflächen mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Zu den Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Oberflächencharakterisierung nach der neuen Norm ISO21920:2021 bieten wir sowohl offene als auch Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der neuen ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis -3:2021 (profilierte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt und grundlegend verändert.