Partikel
Partikel sind als singuläre Oberflächenerhebungen definiert. Diese sind nicht mit den Oberflächenkennwerten der ISO-Normen beschreibbar. Dazu bedarf es einer speziellen Strukturanalyse, der sogenannten Partikelanalyse. Mit dieser Methode werden Partikel hinsichtlich der horizontalen Dimensionen und Anzahl statistisch ausgewertet. Die Partikelanalyse kann im Anschluss von optischen Oberflächenmessungen 3D oder von Aufnahmen mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) erfolgen. Im REM kann des Weiteren mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX Analyse) eine Materialbestimmung der Partikel erfolgen.
Partikel – Bedeutung
Als Partikel bezeichnete singuläre Oberflächenerhabenheiten spielen beim Einlaufverlaufen von Oberflächen, insbesondere bei Reibpaarungen von harten und weichen Werkstoffen eine Rolle. Eine weitere Bedeutung haben diese bei dotierten Beschichtungen (Dispersionsschichten) wo über Partikel die funktionale Eigenschaften von Oberflächen gezielt verändert werden.
Laborausstattung
- Konfokalmikroskop
- Digitalmikroskop
- Stereomikroskop
- Rasterelektronenmikroskop (REM)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für die Analyse von Partikeln an Oberflächen.
Oberflächenmessung 2D/3D
Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D durch, um die Rauheit, Welligkeit, Ebenheit und Mikrostruktur von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die ISO-konformen 2D- und 3D-Oberflächenkennwerte berechnet, um die für die Funktion wichtigen Strukturen durch quantitative Größen zu beschreiben. Die Bauteiloberfläche bestimmt deren Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten sowie das optische Erscheinungsbild.
Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien 2D/3D bestimmt werden. Diese Oberflächenmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine ausreichende Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und die empfindliche Oberflächenfeinstruktur nicht zu beschädigen. Für besonders hohe Auflösungen im Nanometerbereich bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kennwerten zur Beschreibung von Oberflächen. Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.