Partikel
Partikel sind als singuläre Oberflächenerhebungen definiert. Diese sind nicht mit den Oberflächenkennwerten der ISO-Normen beschreibbar. Dazu bedarf es einer speziellen Strukturanalyse, der sogenannten Partikelanalyse. Mit dieser Methode werden Partikel hinsichtlich der horizontalen Dimensionen und Anzahl statistisch ausgewertet. Die Partikelanalyse kann im Anschluss von optischen Oberflächenmessungen 3D oder von Aufnahmen mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) erfolgen. Im REM kann des Weiteren mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX Analyse) eine Materialbestimmung der Partikel erfolgen.
Als Partikel bezeichnete singuläre Oberflächenerhabenheiten spielen beim Einlaufverlaufen von Oberflächen, insbesondere bei Reibpaarungen von harten und weichen Werkstoffen eine Rolle. Diese treten z.B. als sogenannte Droplets bei Beschichtungen auf, die auf Oberflächen durch Abscheidung aufgebracht werden.
Laborausstattung
- Konfokalmikroskop
- Digitalmikroskop
- Stereomikroskop
- Rasterelektronenmikroskop (REM)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächen- und Rauheitsmessung
Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächen- und Rauheitsmessungen zur Bestimmung der Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus diesen Messungen werden 2D-Profil-Kenngrößen, 3D-Oberflächen-Kenngrößen und Drallkenngrößen nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Darüber hinaus können auf der Grundlage der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen, etc. ) durchgeführt werden.
Die moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Bestimmung von Oberflächen nahezu aller Bauteile und Werkstoffe. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch zu erfassen. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenmikrostruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Zur Vertiefung der Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Angabe der Oberflächenbeschaffenheit auf Zeichnungen bieten wir das Seminar Rauheit und Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis 3:2021 (profilhafte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt sowie grundlegend verändert.