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Partikel

Partikel sind als singuläre Oberflächenerhebungen definiert. Diese sind nicht mit den Oberflächenkennwerten der ISO-Normen beschreibbar. Dazu bedarf es einer speziellen Strukturanalyse, der sogenannten Partikelanalyse. Mit dieser Methode werden Partikel hinsichtlich der horizontalen Dimensionen und Anzahl statistisch ausgewertet. Die Partikelanalyse kann im Anschluss von optischen Oberflächenmessungen 3D oder von Aufnahmen mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) erfolgen. Im REM kann des Weiteren mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX Analyse) eine Materialbestimmung der Partikel erfolgen.

Als Partikel bezeichnete singuläre Oberflächenerhabenheiten  spielen beim Einlaufverlaufen von Oberflächen, insbesondere bei Reibpaarungen von harten und weichen Werkstoffen eine Rolle. Diese treten z.B. als sogenannte Droplets bei Beschichtungen auf, die auf Oberflächen durch Abscheidung aufgebracht werden.

Laborausstattung

  • Konfokalmikroskop
  • Digitalmikroskop
  • Stereomikroskop
  • Rasterelektronenmikroskop (REM)

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.

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Oberflächen- und Rauheitsmessung

Wir führen Oberflächen- und Rauheitsmessungen durch, um Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die Profil-Kennwerte 2D und die Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche erfolgen.

Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien bestimmt werden. Diese Oberflächen- und Rauheitsmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und empfindliche Oberflächenstrukturen nicht zu verändern. Für besonders hohe Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).

Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: info@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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