Partikel
Partikel sind als singuläre Oberflächenerhebungen definiert. Diese sind nicht mit den Oberflächenkennwerten der ISO-Normen beschreibbar. Dazu bedarf es einer speziellen Strukturanalyse, der sogenannten Partikelanalyse. Mit dieser Methode werden Partikel hinsichtlich der horizontalen Dimensionen und Anzahl statistisch ausgewertet. Die Partikelanalyse kann im Anschluss von optischen Oberflächenmessungen 3D oder von Aufnahmen mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) erfolgen. Im REM kann des Weiteren mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX Analyse) eine Materialbestimmung der Partikel erfolgen.
Als Partikel bezeichnete singuläre Oberflächenerhabenheiten spielen beim Einlaufverlaufen von Oberflächen, insbesondere bei Reibpaarungen von harten und weichen Werkstoffen eine Rolle. Diese treten z.B. als sogenannte Droplets bei Beschichtungen auf, die auf Oberflächen durch Abscheidung aufgebracht werden.
Laborausstattung
- Konfokalmikroskop
- Digitalmikroskop
- Stereomikroskop
- Rasterelektronenmikroskop (REM)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächen- und Rauheitsmessung
Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus den Messungen werden die 2D-Profilkenngrößen und die 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung der Oberflächenstrukturen ermittelt. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen auch Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen etc.) durchgeführt werden.
Die umfangreiche und moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Messung nahezu aller Arten von Oberflächen. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch erfassen zu können. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Mikrostruktur von Oberflächen mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Zu den Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Oberflächencharakterisierung nach der neuen Norm ISO21920:2021 bieten wir sowohl offene als auch Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der neuen ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis -3:2021 (profilierte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt und grundlegend verändert.