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Strukturanalyse

Begriffsdefinition Strukturanalyse

Mit der Strukturanalyse oder auch Motivanalyse genannt werden geometrische Merkmale einer Oberfläche in einer 3D-Strukturanalyse statistisch ausgewertet. Dies sind zum Beispiel Poren, Riefen, Schlagstellen und Fehlstellen. Mit der Oberflächenstrukturanalyse können diese Merkmale (Motive) hinsichtlich Größe, Tiefe, Fläche, Volumen, Orientierung, Homogenität uvm. ausgewertet werden.

Anwendung Strukturanalyse für Oberflächenmerkmale

Die Oberflächenstrukturanalyse bzw. Motivanalyse wird beispielsweise für die Bewertung von Fehlstellen an der Oberfläche eingesetzt, die zu Undichtigkeiten von Dichtsitzen führen. Eine weitere Möglichkeit sind die Bewertung von Schlagstellen auf Wälzkörper. Bei geschmierten Systemen sind die Gleichmäßigkeit von Vertiefungen ein wichtiges funktionales Merkmal. Solche Strukturmerkmale sind mit den Rauheitskenngrößen nicht bewertbar.

Beispiel für Strukturanalyse von Oberflächen

Wir führen optische Oberflächenmessungen 2D/3D durch, um die Rauheit, Welligkeit, Form und Mikrostrukturen von Oberflächen zu bestimmen. Um die Eigenschaften der Oberfläche zu charakterisieren werden ISO-konforme Kenngrößen 2D/3D berechnet. Die Oberfläche eines Bauteils bestimmt deren Funktion (Reibungs-, Verschleiß-, Dichtverhalten) und das optische Erscheinungsbild. Die Oberflächenmikrostrukturen werden durch die optischen Messungen vollständig dreidimensional und berührungslos erfasst.

Durch unsere umfassende Laborausstattung können die Oberflächen von allen Materialien gemessen werden, wie z.B. Metalle, Kunststoffe, Keramiken, Gläser. Diese Oberflächenmessungen führen wir überwiegend mit optischen Messgeräten durch. Für besonders hochauflösende Oberflächenanalysen verwenden wir ein Rasterkraftmikroskop (AFM). Gerne vermessen wir die Oberflächen Ihrer Bauteile und beraten Sie bei der Auswahl von geeigneten Kenngrößen zur Beschreibung von Oberflächen.

Wir arbeiten auf der wissenschaftlichen Basis einer Hochschule, mit der Handlungskompetenz eines Industrieunternehmens.

Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen 2D/3D incl. Strukturanalysen.

Jetzt anfragen

Laborausstattung Oberflächenmessungen 2D/3D für Strukturanalysen

  • Weißlichtinterferometer (WLI)
  • Konfokal Laser Scanning Mikroskop
  • Konfokalmikroskop
  • Rasterkraftmikroskop (AFM)
Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr

E-Mail: kontakt@steinbeis-analysezentrum.com
Tel: +49 721 9735 831
Mobil: +49 172 9057349

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