Reale Oberfläche
Die reale Oberfläche bzw. abgewickelte Oberfläche ist die vergrößerte Oberfläche, welche durch Erhöhungen und Vertiefungen entsteht. Diese wird über das Grenzflächenverhältnis berechnet, welches ein Maß für die Komplexität der Oberfläche darstellt.
Die Komplexität der realen Oberfläche beeinflusst deren Benetzbarkeit und deren Größe spielt z.B. bei Klebeverbindungen eine wichtige Rolle.
Laborausstattung
- Konfokalmikroskop
- Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
- Weißlichtinterferometer (WLI)
- Rasterkraftmikroskop (AFM)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächen- und Rauheitsmessung
Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächen- und Rauheitsmessungen zur Bestimmung der Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus diesen Messungen werden 2D-Profil-Kenngrößen, 3D-Oberflächen-Kenngrößen und Drallkenngrößen nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Darüber hinaus können auf der Grundlage der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen, etc. ) durchgeführt werden.
Die moderne Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Bestimmung von Oberflächen nahezu aller Bauteile und Werkstoffe. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch zu erfassen. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenmikrostruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Zur Vertiefung der Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Angabe der Oberflächenbeschaffenheit auf Zeichnungen bieten wir das Seminar Rauheit und Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis 3:2021 (profilhafte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt sowie grundlegend verändert.