Flächen-Rauheit 3D
von Oberflächen
Die Flächen-Rauheit 3D wird durch flächenhafte Messungen der Oberflächenstruktur bestimmt. Im Gegensatz zu linienhaften Messungen (Tastschnitt) werden durch flächenhafte Messungen die Oberflächenstrukturen vollständig erfasst. Diese Messungen erfolgen mit optischen Messgeräten, wie z.B. Konfokalmikroskop und Weißlichtinterferometer. Bei diesen tastet ein feiner Lichtstrahl die Oberfläche ganz präzise dreidimensional ab. Aus dieser Messungen werden die kurzwelligen Anteile als Rauheitsoberfläche herausgefiltert und anschließend die Flächen-Kennwerte 3D nach den Normen ISO 25178 und EUR 15178N bestimmt. Des Weiteren können durch die dreidimensionale Erfassung der Oberflächenstrukturen Merkmale charakterisiert werden, die nicht durch die Kennwerte der Normen beschrieben werden können. Das sind beispielsweise Riefen, Texturen, Schlagstellen, Poren und Erhabenheiten.
Die Flächen-Rauheit 3D und die daraus berechneten Rauheitskennwerte dienen dazu das funktionale Verhalten einer Oberfläche bzgl. Reibung, Verschleiß, Dichtheit, Einlaufverhalten und Tragfähigkeit vollständig zu charakterisieren.
Laborausstattung
- Konfokalmikroskop
- Konfokales Laser Scanning Mikroskop
- Weißlichtinterferometer (WLI)
- Optisches Ebenheitsmessgerät
- Rasterkraftmikroskop (AFM)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächen- und Rauheitsmessung
Wir führen Oberflächen- und Rauheitsmessungen durch, um Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die Profil-Kennwerte 2D und die Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche erfolgen.
Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien bestimmt werden. Diese Oberflächen- und Rauheitsmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und empfindliche Oberflächenstrukturen nicht zu verändern. Für besonders hohe Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.