Flächen-Rauheit 3D
von Oberflächen
Die Flächen-Rauheit 3D wird durch flächenhafte Messung von Oberflächen bestimmt. Diese erfolgt mit optischen Messgeräten, wie z.B. Konfokalmikroskop und Weißlichtinterferometer. Bei diesen tastet ein feiner Lichtstrahl die Oberfläche ganz präzise dreidimensional ab. Aus dieser Messungen werden die kurzwelligen Anteile als Rauheitsoberfläche herausgefiltert. Aus diesen Messungen werden die Flächen-Kennwerte 3D nach den Normen ISO 25178 und EUR 15178N bestimmt. Des Weiteren werden zur Charakterisierung von Merkmalen, die nicht durch Kennwerte beschrieben werden können, sogenannte Strukturanalysen durchgeführt. Dabei handelt es sich um Merkmale wie Riefen, Texturen, Schlagstellen, Partikel, die mit Hilfe einer Strukturanalyse statistisch bewertet werden.
Die Flächen-Rauheit 3D einer Oberfläche beeinflusst das Dicht-, Schmier-, Reibungs- und Verschleißverhalten von Bauteiloberflächen zu charakterisieren. Diese setzt sich aus den kurzwelligen Anteile der Oberfläche zusammen. Die Flächen-Rauheit beinhaltet im Unterschied zur Profil-Rauheit alle Informationen der Oberflächenmikrostruktur und korreliert deshalb viel besser mit dem Funktionsverhalten.
Laborausstattung
- Konfokalmikroskop
- Konfokales Laser Scanning Mikroskop
- Weißlichtinterferometer (WLI)
- Optisches Ebenheitsmessgerät
- Rasterkraftmikroskop (AFM)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächen- und Rauheitsmessung
Wir führen Oberflächen- und Rauheitsmessungen durch, um Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Aus diesen Messungen werden die Profil-Kennwerte 2D und die Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt, um bestimmte Oberflächenmerkmale quantitativ zu beschreiben. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche erfolgen.
Durch die umfassende Laborausstattung im Steinbeis-Transferzentrum können Oberflächen von nahezu allen Bauteilen und Materialien bestimmt werden. Diese Oberflächen- und Rauheitsmessungen werden hauptsächlich mit optischen Verfahren durchgeführt, um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, alle Strukturen dreidimensional zu erfassen und empfindliche Oberflächenstrukturen nicht zu verändern. Für besonders hohe Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenstruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Für einen vertiefenden Einblick in die Themen Rauheitswerte, Rauheitsmessung und Zeichnungsangabe führen wir jährlich das Seminar Rauheit durch und bieten auch Inhouse-Seminare an.