Oberflächenmessung (Topografie- und Rauheitsmessung)
Das Steinbeis-Transferzentrum Tribologie führt Oberflächenmessungen als Auftragsmessung durch und berät gerne hinsichtlich geeigneter Oberflächenkenngrößen für die Beschreibung von Oberflächenstrukturen. Hierzu bieten wir auch das Seminar Rauheit und Rauheitsmessung an in dem die Kenngrößen bis hin zur richtigen Zeichnungsangabe behandelt werden.
Dienstleistungen Oberflächenmessung:
- Oberflächenmessung
- Rauheitsmessung
- Oberflächenkenngrößen
- Messung der Mikrogeometrie
- Mikrostruktur
- Verschleißmessung
- Tiefenscharfe Farbaufnahmen
- Oberflächenfehler, Kratzer, Risse, Löcher
- Partikelzählung
- Drallmessung
Durch unsere Oberflächenmessgeräte ist die Messung von allen Oberflächen möglich, auch schwierige Strukturen und Materialien. Die überwiegend optische Oberflächenmessung eignet sich auch für die Messung der Oberflächenrauheit von empfindlichen Materialien. Bei den der Optik nicht zugänglichen Messstellen werden Negativformen mit einem Abformmaterial angefertigt. Über die aus der Messung der Oberflächenstruktur ermittelten Kenngrößen wird die Oberfläche hinsichtlich Funktion und optischen Erscheinungsbild charakterisiert.
Mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) wird die Oberflächenrauheit mit der höchsten Auflösung aller mikroskopischen Techniken bestimmt und Strukturen bis in den Nanometerbereich gemessen (AFM Messung).
Drallstrukturen an Wellen werden über die taktile Drallmessung und die anschließende Berechnung von Drallkenngrößen bewertet. Drall ist eine Oberflächenstruktur auf der Dichtfläche einer Welle, welche das Fließverhalten des abzudichtenden Fluids beeinflusst.
Leistungsübersicht Oberflächenmessung:
OPTISCHE OBERFLÄCHENMESSUNG
Die optische Oberflächenmessung und Rauheitsmessung wird in Abhängigkeit von Oberflächenrauheit und Material mit unterschiedlichen Messverfahren durchgeführt. Wir wählen für Sie das am besten geeignete Messverfahren aus.
- Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
- Kombigerät Konfokalmikroskop & Weißlichtinterferometer
- Weißlichtinterferometer
- Mobiles Weißlichtinterferometer
Die Konfokalmikroskope eignen sich für die Messung der Topografie von Materialien geringer Reflektion. Dagegen haben die Weißlichtinterferometer ihre Stärken in der Messung der Oberflächenrauheit von reflektierenden Oberflächen, so dass damit auch superglatte Oberflächen vermessen werden können.
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Mit der taktilen (berührenden) Messung der Rauheit werden die Rauheitsprofile einer Oberfläche gemessen und daraus die Rauheitskenngrößen nach ISO 4287 und ISO 13565 bestimmt. Hierzu gehören beispielsweise die Profiltiefe (Pt), die Rautiefe (Rz, Rt, Rz1max) oder der Traganteil (Pmr, Rmr).
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE (AFM)
Die Oberflächenmessung 2D/3D mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) erreicht die höchste Auflösung der Mikroskopie. Diese wird für die Erfassung kleinster Oberflächenstrukturen und Rauheiten eingesetzt.
DRALLMESSUNG
Die Drallmessung an Wellen wird mit einer taktilen (berührenden) Rauheitsmessung gemäß der Daimler Norm MBM 31007-7 durchgeführt. Bewertet werden dann anhand von Drallkenngrößen der Mikro- und Makrodrall an Dichtflächen von Wellen. Dies sind Oberflächenstrukturen auf der Dichtfläche einer Welle, welche das Fließverhalten des abzudichtenden Fluids beeinflussen.