Oberflächen- und
Rauheitsmessung 2D/3D
Als Steinbeis-Transferzentrum bieten wir Oberflächen- und Rauheitsmessungen von Bauteilen als Dienstleistung an. Zu unserem Leistungsangebot gehört auch die Beratung bzgl. geeigneter Kenngrößen zur Charakterisierung von Oberflächen.
Oberflächenmessung 3D
- Profilrauheit 2D
- Profilwelligkeit 2D
- Flächenrauheit 3D
- Flächenwelligkeit 3D
- Geradheit
- Ebenheit
- Parallelität
- Stufenhöhe
- Konturanalyse
- Texturanalyse
- Furchenanalyse
- Rückhaltevolumen Schmierstoff
- Porenanalyse
- Oberflächenisotropie
- Partikelanalyse
- Kornanalyse
- Materialanteil Oberfläche
- Reale Oberfläche
- Anzahl Oberflächenspitzen
Mit der optischen Rauheitsmessung wird die Oberfläche berührungslos abgetastet dreidimensional erfasst. Erst die dreidimensionale Messung von Oberflächen ermöglicht die vollständige Erfassung der Mikrostruktur, die dann durch 3D-Kenngrößen charakterisiert werden kann. Die optische Messung der Oberflächenrauheit wird auch eingesetzt, um die Oberflächen von empfindlichen Materialien wie Kunststoffe, Elastomeren und Gläser zu messen. Oberflächen von großen Bauteilen können dadurch optisch vermessen werden, indem Negativformen mit einem Abformmaterial vorher angefertigt, und dieses anschließend vermessen wird.
Mit der taktilen (berührenden) Rauheitsmessung wird die Profilrauheit 2D bestimmt und die Profilkenngrößen nach Norm berechnet. Die taktile Messung wird bei unempfindlichen Oberflächen mit periodischer Oberflächenrauheit eingesetzt. Dazu gehört auch die Bewertung der Drallstrukturen auf Wellen für Wellendichtringsysteme.
Das Rasterkraftmikroskop (AFM) kommt für die Erfassung von feinsten Oberflächenstrukturen zum Einsatz. Die Rasterkraftmikroskopie hat die höchste Auflösung aller mikroskopischen Techniken und erfolgen Messungen von Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich.
Leistungsübersicht Rauheitsmessung
OPTISCHE RAUHEITSMESSUNG
Die optische Rauheitsmessung wird abhängig von der Oberflächenrauheit und Werkstoff mit dem geeigneten Messverfahren durchgeführt. Dabei eignen sich die Konfokalmikroskope zur Messung der Topographie von Materialien geringer Reflektion. Dagegen haben die Weißlichtinterferometer ihre Stärken in der Messung der Oberflächenrauheit von reflektierenden glatten Oberflächen.
MOBILE OPTISCHE RAUHEITSMESSUNG
Wir führen als Steinbeis-Transferzentrum mobile optische Rauheitsmessungen vor Ort durch. Hierzu verfügen wir über ein spezielles Weißlichtinterferometer, welches das Messignal durch speziellen Auswertealgorithmus aufbereitet und dadurch braucht dieses keine aufwendige Schwingungsisolierung. Sprechen Sie uns bei Interesse an!
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Bei der taktilen Rauheitsmessung gleitet ein Taster mit einer feinen Diamantspitze mit konstanter Geschwindigkeit über das vermessende Bauteil. Aus dieser taktilen Rauheitsmessung werden die Rauheitskenngrößen der entsprechenden Normen (ISO 4287 und ISO 13565) bestimmt.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
Bei der Rasterkraftmikroskopie tastet eine Messnadel die Oberfläche zeilenweise ab, i.d.R. ohne diese zu berühren. Wenn die Messnadelspitze mit einem Radius im Nanometerbereich sich der Oberfläche annähert, erhöhen sich die atomaren Wechselwirkungskräfte zwischen Nadel und Oberfläche.