Oberflächen- und
Rauheitsmessung
Die Oberflächen- und Rauheitsmessung dient dazu Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen zu bestimmen. Des Weiteren können auf Basis der Ergebnisse von dreidimensionalen optischen Messungen Analysen von speziellen Merkmalen der Oberfläche (z.B. Poren, Schlagstellen, Erhabenheiten, Vertiefungen, Riefen) erfolgen. Wir bieten solche Strukturanalysen auch als Dienstleistung an, um Oberflächen besser zu verstehen.
- Profil-Rauheit 2D
- Profil-Welligkeit 2D
- Flächen-Rauheit 3D
- Flächen-Welligkeit 3D
- Ebenheit
- Parallelität
- Stufe
- Texturen
- Furchen
- Rückhaltevolumen
- Spitzen
- Drall
Analysemethoden
OPTISCHE RAUHEITSMESSUNG
Die Analyse der Topographie einer Oberfläche für die Bestimmung von Rauheit, Welligkeit und Form erfolgt idealerweise mittels optischer Rauheitsmessung bzw. allg. Oberflächenmessung. Bei dieser tasten Konfokalmikroskope mit verschiedenen Lichtquellen (LED, Laser) und Weißlichtinterferometer die Oberfläche dreidimensional und berührungslos mit einem feinen Lichtstrahl ab.
OPTISCHE EBENHEITSMESSUNG
Bei der optischen Ebenheitsmessungen werden die Formabweichungen (Ebenheit, Parallelität) von feingeschliffenen, polierten, gefinishten oder geläppten Oberflächen im Mikrometer- und Submikrometerbereich bestimmt. Als Messgeräte werden i.d.R. Weißlichtinterferometer mit großem Einzelmessfeld eingesetzt, welche die Form einer Oberfläche mit höherer Genauigkeit als eine Koordinatenmessmaschine erfasst.
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Mit der taktilen Rauheitsmessung wird die Profil-Rauheit 2D einer Oberfläche durch eine berührende Messung mit einer feinen Diamantnadel bestimmt. Die taktile Messung ist für harte Materialien gut anwendbar. Bei weicheren Werkstoffen würde die harte Diamantspitze die Oberflächenstruktur beschädigen, wodurch ein Messfehler entstehen würde. Deshalb sind bei diesen Materialien optische Oberflächenmessgeräte zu bevorzugen sind, welche zudem die Mikrostruktur einer Oberfläche dreidimensional erfassen.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE (AFM)
Durch die Rasterkraftmikroskopie (AFM – atomic force microscopy) wird die Topographie einer Oberfläche mit der höchsten Auflösung aller mikroskopischen Techniken bestimmt. Hierzu rastert eine an einer Blattfeder (Cantilever) befindliche Messnadel die Oberfläche Zeile für Zeile ab.
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächen- und Rauheitsmessungen.
Mit der optischen Rauheitsmessung bzw. Oberflächenmessung werden die Rauheit, Welligkeit und Form einer Oberfläche bestimmt. Daraus werden dann die Profil-Kennwerte 2D und Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt. Des Weiteren können mit Hilfe der Ergebnisse von optischen dreidimensionalen Messungen Strukturanalysen von speziellen Merkmalen der Oberflächen, wie z.B. Partikel, Poren, Riefen, Schlagstellen und Texturen durchgeführt werden. Durch die berührungslose Messung können auch Oberflächen von weichen oder empfindlichen Materialien erfasst werden werden.
Die optische Ebenheitsmessung dient dazu, um Formabweichungen wie z.B. Ebenheit und Parallelität von Bauteiloberflächen optisch mit hoher Genauigkeit zu ermitteln.
Bei der taktilen Rauheitsmessung wird die Oberfläche als zweidimensionales Profil berührend erfasst. Hieraus werden die Profil-Kennwerte 2D nach ISO 4287, ISO 13565-2 und ISO 21920-2 bestimmt.
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) dient dazu die Mikrostruktur einer Oberfläche auf der Nanometerskala mit hoher Auflösung zu bestimmen.