Oberflächen- und
Rauheitsmessung 2D/3D
Als Steinbeis-Transferzentrum bieten wir Oberflächen- und Rauheitsmessungen 2D/3D als Dienstleistung an und beraten bzgl. geeigneter Oberflächenkenngrößen. Durch unsere umfassende Laborausstattung können nahezu alle Materialien und Geometrien optisch vermessen werden.
Oberflächenmessung 3D
Mit der berührungslosen optischen Oberflächen- und Rauheitsmessung wird die 3D-Topographie einer Oberfläche erfasst. Die 3-dimensionale Messung liefert viel mehr Informationen über die Oberfläche und ermöglicht weitreichende Strukturanalysen der Oberflächenmerkmale. Hierzu gehören beispielsweise die Motivanalyse (Strukturanalyse) und das Rückhaltevolumen (Schmiertaschen). Aus der optischen Oberflächenmessung werden Flächenkenngrößen bestimmt, welche die Oberfläche vollständig beschreiben. Da die optische Rauheitsmessung der Oberflächen berührungslos erfolgt, kann damit auch die Oberflächen von empfindlichen Materialien wie Kunststoffe, Elastomeren und Gläser gemessen werden. Die Rauheit der Oberfläche von großen Bauteilen oder optisch nicht zugänglichen Stellen (Bohrungen) wird über eine Negativabformung gemessen.
Mit der taktilen (berührenden) Rauheitsmessung wird die 2D-Profilrauheit gemessen und daraus die Profilkenngrößen bestimmt. Die taktile Rauheitsmessung wird bei unempfindlichen Oberflächen mit periodischer Oberflächenstrukturen, wie beispielsweise durch Drehen hergestellte Oberflächen, eingesetzt. Für nicht periodische Oberflächen ist die taktile Rauheitsmessung ungeeignet, ebenso wie zur Messung empfindlicher Materialien, wie z.B. Kunststoffe.
Das Rasterkraftmikroskop kommt für Analysen von Oberflächen mit hoher Ortsauflösung zum Einsatz. Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) hat die höchste Auflösung aller mikroskopischen Techniken und damit werden Analysen mit Ortsauflösungen mit Nanometerbereich durchgeführt.
Leistungsübersicht Oberflächen- und Rauheitsmessung 2D/3D
OPTISCHE RAUHEITSMESSUNG
Die optische Rauheitsmessung 2D/3D wird abhängig von der Oberflächenrauheit und Werkstoff mit dem geeigneten Messverfahren durchgeführt. Die Konfokalmikroskope zur Messung der Topographie von Materialien geringer Reflektion. Die Weißlichtinterferometer haben ihre Stärken in der Messung der Oberflächenrauheit von reflektierenden Oberflächen.
MOBILE OPTISCHE RAUHEITSMESSUNG
Wir führen als Steinbeis-Transferzentrum mobile optische Rauheitsmessungen vor Ort durch. Hierzu verfügen wir über ein spezielles Weißlichtinterferometer, welches das Messignal durch speziellen Auswertealgorithmus aufbereitet und dadurch braucht dieses keine aufwendige Schwingungsisolierung. Sprechen Sie uns bei Interesse an!
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Bei der taktilen Rauheitsmessung gleitet ein Taster mit einer feinen Diamantspitze mit konstanter Geschwindigkeit über das vermessende Bauteil. Aus dieser taktilen Rauheitsmessung werden die Rauheitskenngrößen der entsprechenden Normen (ISO 4287 und ISO 13565) bestimmt.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
Bei der Rasterkraftmikroskopie (AFM – atomic force microscopy) rastert eine Messnadel die Oberfläche zeilenweise ab, i.d.R. ohne diese zu berühren. Wenn die Messnadelspitze mit einem Radius im Nanometerbereich sich der Oberfläche annähert, erhöhen sich die atomaren Wechselwirkungskräfte zwischen Nadel und Oberfläche. Damit lässt sich auch die Leitfähigkeit von Oberflächen ortsaufgelöst bestimmen (C-AFM).