Oberflächen- und
Rauheitsmessung 2D/3D
Wir führen Oberflächenmessungen 2D/3D als Dienstleistung durch, um die Rauheit, die Welligkeit von Oberflächen und Ebenheiten von Oberflächen zu bestimmen. Wir beraten auch gerne bzgl. geeigneter Kenngrößen, um Oberflächen zu beschreiben. Wir messen mit unserer Laborausstattung Oberflächenstrukturen vom Nanometer- bis in den Mikrometerbereich.
Kenngrößen 2D/3D
- ISO 4287: Pt, Ra, Rz, Rq, Rmr, Rmr, …
- ISO 13565-2: Rpk, Rk, Rvk, …
- ISO 25178-2: Sa, Sz, Sq, Sdq, Smr, Sdr, Str, …
- prEN ISO 21920-2
Materialien
- Metalle
- Kunststoffe
- Elastomere (Gummi)
- Keramik
- Glas
Oberflächenmessung 3D
Leistungsübersicht
OPTISCHE OBERFLÄCHENMESSUNG 2D/3D
Durch die Oberflächenmessung und Rauheitsmessung 2D/3D werden Rauheit, Welligkeit und Form von Oberflächen dreidimensional und somit vollständig erfasst. Je nach Beschaffenheit der Oberfläche kommen unterschiedliche optische Messgeräte hierfür zum Einsatz. Die Konfokalmikroskope werden zur Messung der Oberfläche von Materialien geringer Reflektion eingesetzt, während die Weißlichtinterferometer (WLI) ihre Stärken in der Messung von stark reflektierenden Oberflächen haben.
MOBILE OBERFLÄCHENMESSUNG 2D/3D
Wir verfügen in unserem Steinbeis-Transferzentrum über die Möglichkeit mobile optische Oberflächen- und Rauheitsmessungen durchzuführen. Hierzu verfügen wir über ein Kohärenz-Scanning-Weißlichtinterferometer, welches keine besonderen Maßnahmen zur Schwingungsisolierung benötigt. Deshalb können damit mobile optische Oberflächenmessungen vor Ort durchgeführt werden.
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Mit der taktilen (berührenden) Rauheitsmessungen wird die einfache zweidimensionale Rauheit einer Oberfläche durch eine berührende Messung bestimmt, also bei unempfindlichen Materialien (keine Kunststoffe). Bei der taktilen Rauheitsmessung gleitet ein Taster mit einer feinen Diamantspitze mit konstanter Geschwindigkeit über das vermessende Bauteil.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
Bei der Rasterkraftmikroskopie wird die Oberflächenstruktur im Submikrometerbereich mit sehr hoher Auflösung dreidimensional erfasst. Hierzu rastert eine feine Messnadel die Oberfläche zeilenweise abrastert, i.d.R. ohne diese dabei zu berühren.
Die optische Oberflächen- und Rauheitsmessung dient der berührungslosen Messung der Oberflächenstrukturen mit sehr hoher Auflösung. Aus diesen Messungen werden die 2D-Profil-Kenngrößen (z.B. Rz, Rz1max, Rmr) und die 3D-Flächen-Kenngrößen bestimmt. Die 3D-Kenngrößen beschreiben eine Oberfläche deutlich besser als die zweidimensionalen, welche nur für periodische (regelmäßige) Oberflächenstrukturen verwendet werden können. Mit der optischen Rauheitsmessung werden auch Oberflächen von Kugeln gemessen und dadurch Rauheit und Form bestimmt. Da die optische Messung berührungslos arbeitet, ist die Erfassung der Oberflächenrauheit von empfindlichen Materialien (z.B. Gläser) und von weichen Materialien (z.B. Kunststoffe, Elastomere) möglich. Diese Oberflächen würden bei einer taktilen Rauheitsmessung durch die harte Diamantspitze beschädigt. Bei optisch nicht zugänglichen Messstellen (z.B. Bohrungen) werden Negativabformungen der Oberfläche angefertigt und diese anschließend optisch vermessen.
Mit der taktilen Rauheitsmessung wird die 2D-Profilrauheit als berührende Linienmessung erfasst und daraus werden 2D-Profilkenngrößen bestimmt. Die taktile Rauheitsmessung wird bei unempfindlichen Oberflächen mit periodischen (regelmäßigen) Oberflächenstrukturen eingesetzt. Für aperiodische (nicht regelmäßige) Oberflächen oder empfindliche Materialien (Kunststoffe, Elastomere) ist die taktile Rauheitsmessung ungeeignet.
Das Rasterkraftmikroskop (AFM) kommt für Oberflächenmessungen mit sehr hoher Ortsauflösung zum Einsatz. Die Rasterkraftmikroskopie hat die höchste Auflösung aller mikroskopischen Techniken.