Oberflächen- und
Rauheitsmessung
Als Prüflabor an der Dualen Hochschule Karlsruhe bieten wir Messungen der Oberflächen von Bauteilen als Dienstleistung an, um Topografie und Rauheit zu messen.
Leistungsübersicht:
- Profilrauheit 2D
- Profilwelligkeit 2D
- Flächenrauheit 3D
- Rauheit optisch messen
- Form und Kontur
- Textur
- Partikelanalyse
- Porenanalyse
- Kornanalyse
Wir messen von allen Materialien die Rauheit und Topografie und bestimmen die Oberflächenkennwerte nach den aktuellen Normen.
Eines der Verfahren für die Topografie von Oberflächen zu analysieren ist die optische Oberflächenmessung. Dabei erfolgt die Messung der Oberfläche dreidimensional und dadurch kann nicht nur die Profilrauheit 2D sondern auch die Flächenrauheit 3D bestimmt werden. Da die Methode berührungslos arbeitet, eignet sich diese um die Rauheit von empfindlichen Materialien zu messen, wie z.B. Kunststoffe, Beschichtungen, Gläser. Die optische Messung der Rauheit hat gegenüber der taktilen eine wesentliche höhere Auflösung. Bei den der Optik nicht zugänglichen Messstellen werden Negativformen mit einem Abformmaterial angefertigt.
Mit der taktilen Rauheitsmessung wird die Profilrauheit 2D berührend gemessen und die Kenngrößen nach ISO 4287 und ISO 13565 berechnet. Durch Messung der Profilrauheit werden an Wellen die Drallstrukturen analysiert, welche das Fließverhalten des abzudichtenden Fluids an der Dichtfläche einer Welle beeinflussen.
Das Rasterkraftmikroskop (AFM) hat die höchste Auflösung aller mikroskopischen Techniken und damit werden Messungen von Oberflächenstrukturen im Submikrometerbereich durchgeführt.
Übersicht Oberflächen- und Rauheitsmessung:
OPTISCHE OBERFLÄCHENMESSUNG
Die optische Oberflächenmessung wird abhängig von der Oberflächenstruktur und Material mit verschiedenen Verfahren durchgeführt. Die Konfokalmikroskope eignen sich für die Messung der Topographie von Materialien geringer Reflektion. Dagegen haben die Weißlichtinterferometer ihre Stärken in der Messung der Oberflächenrauheit von reflektierenden glatten Oberflächen.
- Konfokal Laser Scanning Mikroskop
- Weißlichtinterferometer
- Kombigerät Konfokalmikroskop & Weißlichtinterferometer
Das Kombigerät wird genau eingesetzt wo die Entscheidung wo über die Oberfläche unterschiedliche Eigenschaften vorliegen.
MOBILE OPTISCHE OBERFLÄCHENMESSUNG
Wir führen als Steinbeis-Transferzentrum auch mobile optische Oberflächenmessung und Rauheitsmessungen vor Ort mit einem Weißlichtinterferometer durch. Durch einen speziellen Algorithmus ist es möglich auf eine aufwendige Schwingungsisolierung des Messgerätes zu verzichten. Sprechen Sie uns bei Interesse an!
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
- Profilrauheit 2D
- Profilwelligkeit 2D
Bei der taktilen Rauheitsmesssung gleitet ein Taster mit einer feinen Diamantspitze mit konstanter Geschwindigkeit über das vermessende Bauteil. Aus dieser taktilen Rauheitsmessung werden die Rauheitskenngrößen der entsprechenden Normen bestimmt.
RASTERKRAFTMIKROSKOP (AFM)
Bei der Rasterkraftmikroskopie tastet eine Messnadel die Oberfläche zeilenweise ab, ohne diese zu berühren. Wenn die Messnadelspitze mit einem Radius im Nanometerbereich sich der Oberfläche annähert, erhöhen sich die atomaren Wechselwirkungskräfte zwischen Nadel und Oberfläche um eine Größenordnung, so dass die Topografie gemessen werden kann.