Oberflächen- und
Rauheitsmessung 2D/3D
Die Messung der Oberfläche dient dazu die Rauheit, Welligkeit und die Form zu bestimmen. Dazu werden optische linienhafte und flächenhafte Oberflächenmessungen als Dienstleistung durchgeführt und anschließend 2D- und 3D-Kennwerte zur Charakterisierung von Oberflächenmerkmale ermittelt. Des Weiteren bieten wir Strukturanalysen an, um spezielle Merkmale von Oberflächen zu analysieren, die mit Kennwerten nicht erfasst werden können.
- Rauheit 2D/3D
- Welligkeit 2D/3D
- Ebenheit
- Parallelität
- Stufe
- Texturen
- Furchen
- Rückhaltevolumen
- Spitzen
- Drall
Analysemethoden
OPTISCHE OBERFLÄCHENMESSUNG
Mit der optischen Oberflächenmessung wird die Oberfläche flächenhaft mit einem feinen Lichtstrahl berührungslos abgetastet und so die Strukturen dreidimensional erfasst. Dazu werden Konfokalmikroskope mit verschiedenen Lichtquellen (LED, Laser) eingesetzt und Weißlichtinterferometer.
MOBILE OBERFLÄCHENMESSUNG
Mit der mobilen optischen Oberflächenmessungen können die Rauheit, Welligkeit und Mikrostruktur von Bauteiloberflächen vor Ort bestimmt werden. Dies wird z.B. für Prozessoptimierungen eingesetzt. Diese Messungen erfolgen mit einem Kohärenz-Scanning-Weißlichtinterferometer, welches keine besonderen Maßnahmen zur Schwingungsisolierung benötigt.
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Mit der taktilen (berührenden) Rauheitsmessung wird die Profil-Rauheit 2D einer Oberfläche durch eine Profil-/Linienmessung der Oberfläche bestimmt. Die taktile Messung erfolgt mit einer Messnadel aus Diamant und ist für harte Materialien gut anwendbar. Bei weicheren Werkstoffen beschädigt die sehr harte Diamantspitze die Oberflächenstruktur weswegen diese Materialien durch optische Oberflächenmessgeräte vermessen werden müssen.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE (AFM)
Durch die Rasterkraftmikroskopie (AFM) wird die Topographie einer Bauteiloberfläche mit der höchsten Auflösung aller mikroskopischen Techniken vermessen. Hierzu tastet eine an einer Blattfeder (Cantilever) befindliche Messnadel die Oberfläche Zeile für Zeile ab.
SEMINAR RAUHEIT
Dieses Seminar gibt einen Überblick über alle Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächen. Damit werden die Teilnehmer*innen in die Lage versetzt funktionsrelevante Kennwerte 2D/3D auszuwählen, diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben und Rauheitsmessungen durchzuführen. Das Seminar behandelt die Inhalte der seit Dezember 2021 gültigen neuen Norm ISO 21920.
Die optische Oberflächen- und Rauheitsmessung wird zur flächenhaften und somit vollständigen Messung der Oberflächenstruktur eingesetzt Die Messung erfolgt mit optischen Messgeräten (z.B. Konfokalmikroskop, Weißlichtinterferometer), welche die Mikrostrukturen der Oberfläche mit deutlich höherer Genauigkeit als die linienhaft messenden taktilen Tastschnittgeräte. Des Weiteren können mit optischen Messgeräten auch Oberflächen von empfindlichen Materialien vermessen werden, da diese berührungslos arbeiten.
Mit der taktilen Rauheitsmessung wird die Profil-Rauheit 2D aus einer berührenden Messung (Tastschnittverfahren) bestimmt und daraus werden 2D-Kennwerte berechnet.
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) dient dazu die Mikrostruktur einer Oberfläche und mechanische Materialunterschiede auf der Nanometerskala zu bestimmen. Das Rasterkraftmikroskop (AFM) hat die höchste Auflösung aller mikroskopischen Techniken.