Oberflächenrauheitsmessung
Die Oberflächenrauheitsmessung dient zur Bestimmung der Rauheit, Welligkeit und Formabweichung von Oberflächen. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (z.B. Poren, Schlagstellen, Erhebungen, Vertiefungen, Riefen) durchgeführt werden. Solche Strukturanalysen von Merkmalen bieten wir auch als Dienstleistung an.
- Profil-Rauheit 2D
- Profil-Welligkeit 2D
- Flächen-Rauheit 3D
- Flächen-Welligkeit 3D
- Ebenheit
- Parallelität
- Stufe
- Texturen
- Furchen
- Rückhaltevolumen
- Spitzen
- Drall
Unsere Leistungen
OPTISCHE OBERFLÄCHENRAUHEITSMESSUNG
Die Analyse der Topographie einer Oberfläche für die Bestimmung von Rauheit, Welligkeit und Formabweichung erfolgt idealerweise mittels optischer Rauheitsmessung bzw. allg. Oberflächenmessung. Bei dieser tasten optische Messgeräte die Oberfläche dreidimensional mit einem feinen Lichtstrahl ab. Je nach Oberflächenmikrostruktur und Material kommen folgende Einrichtungen zum Einsatz:
OPTISCHE EBENHEITSMESSUNG
Bei der optischen Ebenheitsmessungen werden die Formabweichungen (Ebenheit, Parallelität) von feingeschliffenen, polierten, gefinishten oder geläppten Oberflächen im Mikrometer- und Submikrometerbereich bestimmt. Als Messgeräte werden i.d.R. Weißlichtinterferometer mit großem Einzelmessfeld eingesetzt, welche die Form einer Oberfläche mit höherer Genauigkeit als eine Koordinatenmessmaschine erfasst.
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Mit der taktilen Rauheitsmessung wird die Profil-Rauheit 2D einer Oberfläche durch eine berührende Messung mit einer feinen Diamantnadel bestimmt. Die taktile Messung ist für harte Materialien gut anwendbar. Bei weicheren Werkstoffen würde die harte Diamantspitze die Oberflächenstruktur beschädigen, wodurch ein Messfehler entstehen würde. Deshalb sind bei diesen Materialien optische Oberflächenmessgeräte zu bevorzugen sind, welche zudem die Mikrostruktur einer Oberfläche dreidimensional erfassen.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE (AFM)
Durch die Rasterkraftmikroskopie (AFM – atomic force microscopy) wird die Topographie einer Oberfläche mit der höchsten Auflösung aller mikroskopischen Techniken bestimmt. Hierzu rastert eine an einer Blattfeder (Cantilever) befindliche Messnadel die Oberfläche Zeile für Zeile ab.
Durch die neue Norm ISO 21920 (profilhafte Beschaffenheit) und die ISO 25178 (flächenhafte Beschaffenheit) werden Oberflächenmerkmale durch passgenauen Kennwerte quantitativ charakterisiert. Dadurch stehen alle für die Beschreibung der Oberflächenbeschaffenheit eine Vielzahl an 2D-Kennwerten und 3D-Kennwerten zur funktionsgerechten Beschreibung zur Verfügung.
Kennwerte
- ISO 21920-2: Pt, Ra, Rz, Rzx, Rq, Rmr, Rdc, Rpk, Rk, Rvk, Wt, …
- ISO 25178-2: Sa, Sz, Sq, Sdq, Smr, Sdr, Str, …
- ISO 12781-1: FLTt
- ISO 4287 (zurückgezogen)
- ISO 13565-2 (zurückgezogen)
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenrauheitsmessungen.
Mit der optischen Oberflächenrauheitsmessung werden die Rauheit, Welligkeit und Form einer Oberfläche bestimmt. Daraus werden dann die Profil-Kennwerte 2D und Flächen-Kennwerte 3D nach den entsprechenden Normen ermittelt. Des Weiteren können mit Hilfe der Ergebnisse von optischen dreidimensionalen Messungen Strukturanalysen von speziellen Merkmalen der Oberflächen, wie z.B. Partikel, Poren, Riefen, Schlagstellen und Texturen durchgeführt werden. Durch die berührungslose Messung können auch Oberflächen von weichen oder empfindlichen Materialien erfasst werden werden.
Die optische Ebenheitsmessung dient dazu, um Formabweichungen wie z.B. Ebenheit und Parallelität von Bauteiloberflächen optisch mit hoher Genauigkeit zu ermitteln.
Bei der taktilen Rauheitsmessung wird die Oberfläche als zweidimensionales Profil berührend erfasst. Hieraus werden die Profil-Kennwerte 2D nach ISO 4287, ISO 13565-2 und ISO 21920-2 bestimmt.
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) dient dazu die Mikrostruktur einer Oberfläche auf der Nanometerskala mit hoher Auflösung zu bestimmen.