Oberflächenmessung 2D/3D
Die Oberflächenmessung dient zur Bestimmung der Merkmale Rauheit, Welligkeit und Ebenheit einer Oberfläche. Dabei wird die Oberflächenmessung oftmals verkürzt nur als Rauheitsmessung bezeichnet. Das lässt außer Acht, dass die Rauheit nur eines der Merkmale der Oberflächenstruktur ist. Aus den Oberflächenmessungen werden gemäß der entsprechenden Normen 2D-Profilkenngrößen und 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung von Oberflächenmerkmalen ermittelt.
Was bietet unser Steinbeis-Transferzentrum?
1. Präzision und Zuverlässigkeit
Mit hochmodernen Messgeräten führen wir präzise und zuverlässige Messungen durch. Wir liefern Ihnen genaue Daten der Bauteiloberfläche.
2. Fachkundige Expertise
Unser qualifiziertes Team von Ingenieuren und Materialwissenschaftlern steht Ihnen zur Verfügung, um Ihre Fragen zu beantworten.
3. Kundenzentrierter Ansatz
Wir stimmen uns eng mit Ihnen ab, um passende Lösungen für Ihre Anforderungen umsetzen.
4. Beratungen und Schulungen
Wir stehen Ihnen nicht nur als Dienstleister zur Seite sondern bieten auch Beratungen und Schulungen an.
Unsere Dienstleistungen
OPTISCHE OBERFLÄCHENMESSUNG
Die Messung der Topographie einer Oberfläche, d.h. Rauheit, Welligkeit und Ebenheit, erfolgt idealerweise mittels optischer Verfahren. Denn durch die optischen Messmethoden wird die Oberflächenmikrostruktur dreidimensional und somit vollständig erfasst. Dazu werden Weißlichtinterferometer und Konfokalmikroskope mit verschiedenen Lichtquellen (LED, Laser) eingesetzt.
OPTISCHE EBENHEITSMESSUNG
Bei der optischen Ebenheitsmessungen werden die Formabweichungen (Ebenheit, Parallelität) von feingeschliffenen, polierten, gefinishten oder geläppten Oberflächen im Mikrometer- und Submikrometerbereich bestimmt. Als Messgeräte werden i.d.R. Weißlichtinterferometer mit großem Einzelmessfeld eingesetzt, welche die Form einer Oberfläche mit höherer Genauigkeit als eine Koordinatenmessmaschine erfasst.
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Mit der taktilen Rauheitsmessung wird die Profil-Rauheit 2D einer Oberfläche durch eine berührende Messung mit einer feinen Diamantnadel bestimmt. Die taktile Messung ist für harte Materialien gut anwendbar. Bei weicheren Werkstoffen würde die harte Diamantspitze die Oberflächenstruktur beschädigen, wodurch ein Messfehler entstehen würde. Deshalb sind bei diesen Materialien optische Oberflächenmessgeräte zu bevorzugen sind, welche zudem die Mikrostruktur einer Oberfläche dreidimensional erfassen.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE (AFM)
Durch die Rasterkraftmikroskopie (AFM – atomic force microscopy) wird die Topographie einer Oberfläche mit der höchsten Auflösung aller mikroskopischen Techniken bestimmt. Hierzu rastert eine an einer Blattfeder (Cantilever) befindliche Messnadel die Oberfläche Zeile für Zeile ab.
Kontaktieren Sie uns gerne für eine Oberflächenmessung!
Optimieren Sie Ihre Bauteile durch genaue Oberflächendaten. Kontaktieren Sie uns, um mehr über unsere Dienstleistungen zu erfahren oder um ein individuelles Angebot für Ihre Anforderungen zu erhalten.
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für eine Oberflächenmessung 2D/3D.
Mit der optischen Oberflächenmessung wird die Oberfläche eines Bauteils dreidimensional und damit vollständig vermessen. Somit können nicht nur die 2D-Profilkenngrößen sondern auch die 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung von Merkmalen berechnet werden. Darüber hinaus können spezielle Oberflächenmerkmale wie Partikel, Poren, Riefen, Schlagstellen und Texturen ausgewertet werden. Durch die berührungslose optische Messung können auch weiche oder empfindliche Materialien gemessen werden.
Die optische Ebenheitsmessung dient dazu, um Formabweichungen wie z.B. Ebenheit und Parallelität von Bauteiloberflächen optisch mit hoher Genauigkeit zu ermitteln.
Bei der taktilen Rauheitsmessung wird die Oberfläche als zweidimensionales Profil berührend erfasst. Die taktilen Rauheitsmessgeräte dienen lediglich zur schnellen Qualitätskontrolle der Oberflächengüte eines Bauteils.
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) dient dazu die Mikrostruktur einer Oberfläche auf der Nanometerskala mit hoher Auflösung zu bestimmen.