Oberflächen- und
Rauheitsmessung 2D/3D
Die Oberfläche ist ein entscheidendes Konstruktionselement eines Bauteils! Die Struktur bestimmt das funktionale Verhalten bzgl. Reibung, Verschleiß, Dichtheit, Tragfähigkeit, Einlaufverhalten sowie das optische Erscheinungsbild. Die Oberflächenmessung und Rauheitsmessung 2D/3D dient dazu die Rauheit, Welligkeit und Ebenheit von Oberflächen messtechnisch zu bestimmen. Dazu dienen als quantitative Größen die 2D-/3D-Oberflächenkennwerte der entsprechenden ISO-Normen.
Wir führen optische Oberflächenmessungen als Dienstleistung durch und beraten Sie gerne bzgl. geeigneter normkonformer Kennwerte.
2D-Profilmessung der Oberflächenrauheit
Labordienstleistungen
OPTISCHE OBERFLÄCHENMESSUNG 2D/3D
Mit der optischen Oberflächenmessung wird die Oberfläche durch einen feinen Lichtstrahl berührungslos abgetastet. Die so dreidimensional erfasste Oberflächenstruktur wird anschließend hinsichtlich Rauheit, Welligkeit und Ebenheit über Oberflächenparameter 2D/3D der ISO Normen quantifiziert oder durch spezielle Strukturanalysen bewertet. Für die optische Oberflächenmessung stehen im Steinbeis-Transferzentrum Konfokale Mikroskope zur Messung von schwach reflektierenden Materialien zur Verfügung und Weißlichtinterferometer (WLI) zur Messung von stark reflektierenden.
MOBILE OBERFLÄCHENMESSUNG 2D/3D
Mit der mobile optischen Oberflächenmessungen kann die Rauheit, Welligkeit und Mikrostruktur von Bauteiloberflächen vor Ort bestimmt und direkt die Prozesse optimiert werden. Diese Messungen erfolgen mit einem Kohärenz-Scanning-Weißlichtinterferometer, welches keine besonderen Maßnahmen zur Schwingungsisolierung benötigt.
TAKTILE RAUHEITSMESSUNG
Mit der taktilen (berührenden) Rauheitsmessung wird die Profil-Rauheit 2D einer Oberfläche durch eine Profil/Linienmessung der Oberfläche bestimmt. Die taktile Messung erfolgt mit einer feinen Messnadel und ist für harte Materialien gut anwendbar. Bei weicheren Werkstoffen beschädigt die harte Diamantspitze der Messnadel die Oberfläche und somit wird die Oberflächenrauheit nicht korrekt ermittelt.
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE (AFM)
Durch die Rasterkraftmikroskopie (AFM) wird die Topographie einer Bauteiloberfläche mit der höchsten x-y-z-Auflösung aller mikroskopischen Techniken vermessen. Hierzu rastert eine sehr feine Messnadel (Cantilever) die Oberfläche zeilenweise ab, i.d.R. ohne diese dabei zu berühren.
SEMINAR RAUHEIT UND RAUHEITSMESSUNG
Erlernen Sie im Seminar Rauheit und Rauheitsmessung über die ISO-konforme Messung der Oberflächenrauheit, die Auswahl von geeigneten Kennwerten sowie die normkonforme Angabe der Oberflächenbeschaffenheit in den Zeichnungen.
Die optische Oberflächen- und Rauheitsmessung dient dazu die Oberflächenrauheit, Welligkeit und Ebenheit einer Oberfläche zu bestimmen. Mit der optischen Messung werden die Strukturen dreidimensional mit hoher Genauigkeit erfasst und die empfindliche Oberflächenfeinstruktur dabei nicht beschädigt, da die Methode berührungslos arbeitet. Aus der Messung werden zur quantitativen Beschreibung der Oberflächenmerkmale 2D-Rauheitswerte (Ra, Rq, Rz, Rmr, …) und 3D-Oberflächenkennwerte (Sa, Sq, Sz, …) bestimmt. Falls ein Bauteil zu groß für die Messgeräte oder die Messstelle optisch nicht zugänglich sein sollte, wird die Oberfläche abgeformt und anschließend diese Negativform optisch vermessen.
Oberflächenmessung 3D
Mit der taktilen Rauheitsmessung wird die Profil-Rauheit 2D aus einer berührenden Linienmessung (Tastschnittverfahren) bestimmt und daraus werden 2D-Kenngrößen berechnet. Die taktile Rauheitsmessung wird bei unempfindlichen Oberflächen mit periodischen (regelmäßigen) Oberflächenstrukturen eingesetzt.
Das Rasterkraftmikroskop (AFM) wird für Oberflächenmessungen mit einer sehr hohen x-y-z-Auflösung im Nanometerbereich eingesetzt. Die Rasterkraftmikroskopie hat die höchste Auflösung aller mikroskopischen Techniken und arbeitet i.d.R. berührungslos (non contact mode).
Oberflächenkennwerte 2D/3D
- ISO 4287: Pt, Ra, Rz, Rq, Rmr, Rmr, …
- ISO 13565-2: Rpk, Rk, Rvk, …
- ISO 25178-2: Sa, Sz, Sq, Sdq, Smr, Sdr, Str, …
- prEN ISO 21920-2