2D-Profil-Welligkeit
Die Welligkeit einer Oberfläche bezieht sich auf periodische oder zyklische Variationen in der Höhe oder Struktur der Oberfläche. Anders als die Rauheit, die sich auf zufällige Unregelmäßigkeiten konzentriert, bezieht sich die Welligkeit auf systematische Schwankungen im Profil einer Oberfläche. Die 2D-Profil-Welligkeit wird durch linienhafte Messungen der Oberflächenstruktur bestimmt. Dazu wird eine taktile oder optische Messung der Oberfläche durchgeführt und anschließend die langwelligen Anteile in Form des Welligkeitsprofils herausgefiltert. Aus diesem werden die ISO-konformen Kenngrößen für die Welligkeit bestimmt.
Bedeutung der Welligkeit
Die Charakterisierung der Welligkeit ist wichtig, da sie die Leistung und Qualität von Bauteilen in verschiedenen Anwendungen beeinflussen kann. Zum Beispiel ist die Welligkeit einer Oberfläche entscheidend für die Höhe der lokalen Kontaktpressung und die Dichtigkeit. Somit hat die Welligkeit einen großen Einfluss auf die Tragfähigkeit, die Reibung und den Verschleiß sowie auf die Dichtfunktion.
Messgeräte im Labor STZ
- Konfokalmikroskop
- Konfokales Laser Scanning Mikroskop
- Weißlichtinterferometer (WLI)
- Optisches Ebenheitsmessgerät
- Taktiles Rauheitsmessgerät
Gerne erstellen wir Ihnen ein Angebot für Oberflächenmessungen.
Oberflächenmessung im STZ
Als Steinbeis-Transferzentrum führen wir Oberflächenmessungen zur Bestimmung von Rauheit, Welligkeit, Drall und Formabweichung von Oberflächen durch. Aus den Messungen werden 2D-Profilkenngrößen und 3D-Oberflächenkenngrößen zur quantitativen Charakterisierung der Oberflächeneigenschaften ermittelt. Darüber hinaus können auf Basis der Ergebnisse dreidimensionaler optischer Messungen Analysen spezieller Oberflächenmerkmale (Poren, Fehlstellen, Riefen, Spitzen etc.) durchgeführt werden.
Die umfassende Laborausstattung unseres Steinbeis-Transferzentrums ermöglicht die Bestimmung nahezu aller Arten von Oberflächen. Diese Oberflächenmessungen werden überwiegend mit optischen Verfahren durchgeführt, um alle funktionsrelevanten Strukturen messtechnisch erfassen zu können. Für besonders hohe laterale Auflösungen bestimmen wir die Oberflächenmikrostruktur mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
Für die Themen Rauheit, Rauheitsmessung und Oberflächenangaben Zeichnungen nach der neuen Norm ISO21920:2021 bieten wir Seminare an, sowohl als offene als auch als Inhouse-Seminare an. Mit der Einführung der nuen ISO-Normenreihe ISO 21920-1 bis 3:2021 (profilierte Oberflächenbeschaffenheit) haben sich die internationalen Normen zur eindeutigen und funktionsgerechten Charakterisierung von Oberflächen wesentlich weiterentwickelt und grundlegend verändert.